the external quantum efficiency in

the external quantum efficiency in the range from 400 to 600 nm significantly decreased after the PID test, although no change was observed from 800 to 1100 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ประสิทธิภาพควอนตัมภายนอกในช่วงตั้งแต่ 400 ถึง 600 nm ลดลงหลังจากทดสอบ PID แม้ว่าจะไม่เปลี่ยนแปลงพบว่า 800-1100 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ควอนตัมประสิทธิภาพภายนอกอยู่ในช่วง 400-600 นาโนเมตรลดลงอย่างมากหลังจากการทดสอบ PID แม้ว่าจะไม่มีการเปลี่ยนแปลงก็สังเกตเห็น 800-1,100 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภายนอกประสิทธิภาพควอนตัมในช่วงตั้งแต่ 400 ถึง 600 nm ลดลงหลังจากสอบผิด แม้ว่าไม่มีการเปลี่ยนแปลง คือ สังเกตจาก 800 ถึง 1 , 100 นาโนเมตร