Design for Test (aka "Design for Te

Design for Test (aka "Design for Testability" or "DFT") stands for IC design techniques that add certain testability features to a hardware product design. The premise of the added features is that they make it easier to develop and apply manufacturing tests for the designed hardware. The purpose of manufacturing tests is to validate that the product hardware contains no MANUFACTURING defects that could, otherwise, adversely affect the product’s correct functioning.

Tests are applied at several steps in the hardware manufacturing flow and, for certain products, may also be used for hardware maintenance in the customer’s environment. The tests generally are driven by test programs that execute in Automatic Test Equipment (ATE) or, in the case of system maintenance, inside the assembled system itself. In addition to finding and indicating the presence of defects (i.e., the test fails), tests may be able to log diagnostic information about the nature of the encountered test fails. The diagnostic information can be used to locate the source of the failure.

In other words, the response of vectors(patterns) from a good circuit is compared with the response of vectors(using same patterns) from a DUT(device under test). If the response is the same or matches, the circuit is good. Otherwise, the circuit is not manufactured as it is intended to do so.

DFT plays an important role in the development of test programs and as an interface for test application and diagnostics. Automatic test pattern generation, or ATPG, is much easier if appropriate DFT rules and suggestions have been implemented.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ออกแบบสำหรับการทดสอบ (aka "ออกแบบสำหรับ Testability" หรือ "DFT") หมายถึงเทคนิคการออกแบบ IC ที่เพิ่มคุณลักษณะ testability บางอย่างการออกแบบผลิตภัณฑ์ฮาร์ดแวร์ ประทับใจในคุณลักษณะเพิ่มเป็นว่า พวกเขาทำให้การพัฒนา และใช้ทดสอบผลิตฮาร์ดแวร์ออกแบบ วัตถุประสงค์ของการผลิตทดสอบเพื่อ ตรวจสอบว่า ฮาร์ดแวร์ผลิตภัณฑ์ประกอบด้วยข้อบกพร่องไม่ผลิตที่สามารถ มิฉะนั้น ผลกระทบของผลิตภัณฑ์ถูกต้องทำ ได้ทดสอบใช้ในขั้นตอนต่าง ๆ ในขั้นตอนการผลิตฮาร์ดแวร์และ หาสินค้า นอกจากนี้ยังสามารถใช้สำหรับการบำรุงรักษาฮาร์ดแวร์ในสภาพแวดล้อมของลูกค้า การทดสอบโดยทั่วไปขับเคลื่อน ด้วยโปรแกรมทดสอบที่ดำเนินการในอัตโนมัติทดสอบอุปกรณ์ (ATE) หรือ ในกรณี ของระบบการบำรุง รักษา ภายในระบบจะประกอบตัวเอง ค้นหา และแสดงสถานะของข้อบกพร่อง (เช่น การล้มเหลวทดสอบ), ทดสอบอาจสามารถบันทึกข้อมูลการวินิจฉัยเกี่ยวกับธรรมชาติของเหลวทดสอบพบ สามารถใช้ข้อมูลการวิเคราะห์เพื่อค้นหาแหล่งที่มาของความล้มเหลวในคำอื่น ๆ การตอบสนองของ vectors(patterns) จากวงจรดีเปรียบเทียบกับการตอบสนองของเวกเตอร์ (ใช้รูปแบบเดียวกัน) จากบิลพัสดุ์ (อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ) ถ้าคำตอบเหมือนกัน หรือตรงกับ วงจรจะดี มิฉะนั้น วงจรถูกผลิตขึ้นมีวัตถุประสงค์ดังกล่าวDFT มีบทบาทสำคัญในการพัฒนาโปรแกรมทดสอบ และ เป็นอินเทอร์เฟซสำหรับทดสอบแอพลิเคชันและวินิจฉัย สร้างรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติ หรือ ATPG จะง่ายมากถ้ากฎ DFT ที่เหมาะสมและคำแนะนำการใช้งาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่ออกแบบมาสำหรับการทดสอบ (aka "การออกแบบสำหรับ Testability" หรือ "ผิวเผิน") ย่อมาจากเทคนิคการออกแบบ IC ที่เพิ่มคุณสมบัติการตรวจสอบได้บางอย่างที่จะออกแบบผลิตภัณฑ์ฮาร์ดแวร์ สถานที่ตั้งของคุณสมบัติเพิ่มคือการที่พวกเขาทำให้มันง่ายต่อการพัฒนาและใช้การทดสอบการผลิตฮาร์ดแวร์ที่ออกแบบมา วัตถุประสงค์ของการทดสอบการผลิตคือการตรวจสอบว่าฮาร์ดแวร์สินค้าที่ไม่มีข้อบกพร่องการผลิตที่สามารถมิฉะนั้นผลกระทบต่อการทำงานที่ถูกต้องของผลิตภัณฑ์. การทดสอบจะถูกนำมาใช้ในหลายขั้นตอนในการไหลการผลิตฮาร์ดแวร์และสำหรับสินค้าบางอย่างก็อาจจะใช้สำหรับ การบำรุงรักษาฮาร์ดแวร์ในสภาพแวดล้อมของลูกค้า การทดสอบโดยทั่วไปจะถูกขับเคลื่อนโดยโปรแกรมการทดสอบที่ดำเนินการในอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (ATE) หรือในกรณีของการบำรุงรักษาระบบภายในระบบการประกอบตัวเอง นอกเหนือจากการหาและแสดงให้เห็นการปรากฏตัวของข้อบกพร่อง (เช่นทดสอบล้มเหลว) การทดสอบอาจจะไม่สามารถเข้าสู่ระบบข้อมูลการวินิจฉัยเกี่ยวกับธรรมชาติของการทดสอบพบล้มเหลว ข้อมูลการวินิจฉัยสามารถใช้ในการหาแหล่งที่มาของความล้มเหลว. ในคำอื่น ๆ การตอบสนองของเวกเตอร์ (รูปแบบ) จากวงจรที่ดีเมื่อเทียบกับการตอบสนองของเวกเตอร์ (โดยใช้รูปแบบเดียวกัน) จาก DUT (อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ) ถ้าตอบจะเหมือนกันหรือตรงกับวงจรเป็นสิ่งที่ดี มิฉะนั้นวงจรไม่ได้ผลิตตามที่มันเป็นความตั้งใจที่จะทำเช่นนั้น. DFT มีบทบาทสำคัญในการพัฒนาโปรแกรมการทดสอบและเป็นอินเตอร์เฟซสำหรับการประยุกต์ใช้การทดสอบและการวินิจฉัยโรค รุ่นแบบทดสอบอัตโนมัติหรือ ATPG เป็นมากขึ้นหากกฎระเบียบที่เหมาะสม DFT และข้อเสนอแนะที่ได้รับการดำเนินการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ออกแบบสำหรับการทดสอบ ( aka " การออกแบบเพื่อ testability " หรือ " แรง " ) ย่อมาจาก IC ออกแบบเทคนิคต่าง ๆ ที่เพิ่มคุณสมบัติ testability บางฮาร์ดแวร์การออกแบบผลิตภัณฑ์ สถานที่ตั้งของเพิ่มคุณลักษณะที่พวกเขาทำให้มันง่ายที่จะพัฒนาและใช้ทดสอบการผลิตในการออกแบบฮาร์ดแวร์วัตถุประสงค์ของการทดสอบคือการตรวจสอบว่าฮาร์ดแวร์การผลิตผลิตภัณฑ์มีการผลิตที่บกพร่อง ที่อาจจะส่งผลกระทบกับการทำงานที่ถูกต้องของผลิตภัณฑ์

ใช้ในการทดสอบหลายขั้นตอนในการผลิตฮาร์ดแวร์และการไหล สำหรับสินค้าบางอย่างอาจจะใช้สำหรับการบำรุงรักษาอุปกรณ์ ในสภาพแวดล้อมของลูกค้าการทดสอบโดยทั่วไปจะถูกขับเคลื่อนโดยทดสอบโปรแกรมที่ใช้ในอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ ( กิน ) หรือ ในกรณีของระบบ ในระบบที่ประกอบเอง นอกจากการบ่งชี้สถานะของข้อบกพร่อง ( เช่นการทดสอบล้มเหลว ) , การทดสอบอาจไม่สามารถเข้าสู่ระบบการวินิจฉัยข้อมูลเกี่ยวกับธรรมชาติของพบการทดสอบล้มเหลวข้อมูลการวินิจฉัย สามารถใช้เพื่อค้นหาแหล่งที่มาของความล้มเหลว .

ในคำอื่น ๆการตอบสนองของเวกเตอร์ ( รูปแบบ ) จากวงจรที่ดีเมื่อเทียบกับการตอบสนองของเวกเตอร์ ( ใช้รูปแบบเดียวกัน ) จากในการสั่งซื้อ ( อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ ) ถ้าตอบเป็นตรงเดียวกันหรือเป็นวงจรที่ดี มิฉะนั้น วงจรไม่ผลิตมันเป็นเจตนาที่จะทำเช่นนั้น .

นี้มีบทบาทสำคัญในการพัฒนาโปรแกรมการทดสอบและเป็นอินเตอร์เฟซสำหรับการทดสอบและวิเคราะห์ข้อมูล สร้างรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติ หรือ atpg จะง่ายขึ้นถ้ากฎนี้เหมาะสมและข้อเสนอแนะได้ถูกนำมาใช้