series of environmental conditions

series of environmental conditions to improve reproducibility
of results.
Topographical information regarding the physical structure
of the heads was obtained using a ThermoMicroscope
AFM operated in contact mode. Image enhancement was
restricted to the use of shading and levelling algorithms.
Various methods for measuring PTR using the AFM have
been employed, usually dictated by the software available
with the instrument being used. The method [14] used for
this work required that a 0th order flatten be applied to the
raw image. Secondly a 2nd order XY plane fit auto on
the AlTiC surface. The profile of the head generated by the
AFM has two curvature components: (1) the form of the
head; (2) the bow created by the AFM scanner. If the tape is
assumed to follow the form of the head, then the AlTiC TBS
on both sides of the head can be used to generate a profile of
surface that can be subtracted from the entire image. This
routine not only subtracts the head form, but also subtracts
the scanner bow (which is generally uniform). A second
order plane fit provides the ability to subtract a sphere/
parabola from the image. The scan direction was the same as
the tape cycling direction during acquisition of the AFM
image. A scan rate of 0.4 Hz was used and 512 data points
were collected along each of the 512 scan lines. Great care
was taken in obtaining raw data from AFM. All the PTR
values reported here is the six elements average values. The
standard error in PTR values is less than 2 nm.
Auger electron spectroscopy (AES) was used to analyse
the heads. AES enabled elemental compositions to be
determined at different points on the surface of the heads
with better than 1 mm resolution. Further chemical examination
of the tape samples was conducted by means of Xray
photoelectron spectroscopy (XPS) for the virgin tape
and worn tape in different environment conditions. Both
analyses were conducted in a VG ESCALAB 200D electron
spectrometer equipped with a hemispherical sector energy
analyser. Mg Ka X-radiation was employed for the XPS
examination, at source excitation energy of 15 keV and
emission current of 20 mA. Analyser pass energy of 20 eV
with step size of 0.1 eV and dwell time of 100 ms was used
throughout. The area of XPS analysis was chosen to be
1 mm2 for each analysis of tape samples. The analysis area
was chosen in the middle area of the tape.
Relative atomic concentrations were calculated for each
sample from the intensities of the major photoelectron or
Auger spectral lines by means of codes incorporated in the
VG Eclipse V2.0 instrument data system. The base pressure
within the spectrometer during examinations was always
better than 5!10K7 Pa and this ensured that all signals
recorded were from the sample surface.
Olympus optical microscopy is used to examine the head
surface. There is an Olympus digital camera fitted on the
optical microscopy. So the images of the head could be
taken and stored in the computer. The maximum magnification
of the image is 400 times, it is clearly seen the 1 mm
object, such as the grains of the ceramic and the pole and
shared pole of the heads.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ชุดข้อมูลของสภาพแวดล้อมเพื่อปรับปรุง reproducibility
ของผลลัพธ์
Topographical ข้อมูลเกี่ยวกับโครงสร้างทางกายภาพ
ของหัวกล่าวโดยใช้การ ThermoMicroscope
AFM ดำเนินในโหมดติดต่อ เพิ่มประสิทธิภาพของภาพ
จำกัดกับการใช้การแรเงา และงานปรับระดับอัลกอริทึมการ
มีวิธีการต่าง ๆ สำหรับการวัดโดยใช้ PTR AFM ใช้
รับจ้าง มักจะถูกควบคุม โดยซอฟต์แวร์
ด้วยเครื่องมือที่ใช้ วิธีการ [14] ใช้สำหรับ
งานนี้ต้องสั่ง 0th แผ่ใช้การ
ภาพ raw ประการที่สอง เป็นลำดับ XY ระนาบพอดีอัตโนมัติบน
ผิว AlTiC โพรไฟล์ของหัวที่สร้างขึ้นโดยการ
AFM มีส่วนโค้งที่สอง: (1) รูปแบบของการ
หัว (2 โบว์)สร้าง โดยสแกนเนอร์ AFM ถ้าเป็นเทป
สันนิษฐานตามรูปแบบของหัว แล้ว AlTiC TBS
ทั้งสองด้านของหัวสามารถใช้เพื่อสร้างโพรไฟล์ของ
ผิวที่สามารถลบออกจากภาพทั้งหมดได้ นี้
ประจำไม่เพียงแต่ ลบแบบฟอร์มใหญ่ แต่ยัง ลบ
โบว์สแกนเนอร์ (ซึ่งเป็นเครื่องแบบทั่วไป) ที่สอง
สั่งเครื่องบินพอดีให้สามารถลบทรงกลม /
พาราโบลาจากภาพ ทิศทางของการสแกนได้เหมือน
ทิศทางขี่จักรยานเทประหว่างซื้อของ AFM
รูป อัตราการสแกน 0.4 Hz มีจุดข้อมูลที่ใช้ และ 512
ถูกรวบรวมไว้ตามการสแกน 512 ดูแลที่ดี
ถ่ายรับข้อมูลดิบจาก AFM โดยใช้ PTR ทั้งหมด
ค่ารายงานนี่เป็นองค์ประกอบ 6 ค่าเฉลี่ย ใน
ข้อผิดพลาดมาตรฐานโดยใช้ PTR ค่าไม่น้อยกว่า 2 nm.
ชอนอิเล็กตรอนก (AES) ใช้วิเคราะห์
หัว องค์ธาตุให้ใช้ AES
กำหนดจุดต่าง ๆ บนพื้นผิวของหัว
ที่ดีกว่าความละเอียด 1 mm ไปสอบเคมี
ของเทป ตัวอย่างถูกควบคุม โดย Xray
photoelectron ก (XPS) สำหรับเทปบริสุทธิ์
และสวมใส่เทปในสภาพแวดล้อมที่แตกต่างกัน ทั้ง
วิเคราะห์ได้ดำเนินการใน ESCALAB VG 200D อิเล็กตรอน
พร้อมพลังงานภาคครึ่งสเปกโตรมิเตอร์
analyser Mg Ka X-radiation ถูกจ้างสำหรับ XPS
สอบ ที่แหล่งพลังงานในการกระตุ้น 15 keV และ
ปัจจุบันปล่อยก๊าซ 20 mA พลังงาน 20 eV ผ่าน analyser
มีขนาด 0.1 eV ขั้นตอน และใช้เวลาที่อาศัยอยู่ของ 100 ms
ตลอด เลือกให้เป็นพื้นที่ของการวิเคราะห์ XPS
มม 2 ได้ภาย 1 สำหรับการวิเคราะห์แต่ละเทปตัวอย่าง พื้นที่การวิเคราะห์
ที่เลือกตั้งกลางของเทป
ความเข้มข้นอะตอมสัมพัทธ์ถูกคำนวณสำหรับแต่ละ
ชิ้นงานตัวอย่างจากการปลดปล่อยก๊าซของ photoelectron หลัก หรือ
ชอนเส้นสเปกตรัมโดยใช้รหัสรวมใน
VG คราส V2.0 เครื่องมือข้อมูลระบบ ดันฐาน
ภายในสเปกโตรมิเตอร์ในระหว่างการตรวจสอบได้เสมอ
กว่า 5 ! 10K 7 ป่าและนี้มั่นใจว่า ทุกสัญญาณ
บันทึกได้จากพื้นผิวตัวอย่าง
โอลิมปัส microscopy แสงใช้ในการตรวจสอบหัว
ผิว มี Olympus เป็นกล้องดิจิตอลที่ติดตั้งบน
microscopy แสง ดังนั้นภาพของศีรษะอาจ
ถ่าย และเก็บไว้ในคอมพิวเตอร์ การขยายตัวสูงสุด
ของภาพเป็นเวลา 400 ชัดเจนเห็น 1 mm
วัตถุ เช่นธัญพืชแบบเซรามิกและเสา และ
หัวขั้วใช้ร่วมกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ชุดของสภาพแวดล้อมในการปรับปรุงการผลิตซ้ำ
ของผล
ข้อมูลภูมิประเทศเกี่ยวกับโครงสร้างทางกายภาพ
ของหัวที่ได้รับใช้ ThermoMicroscope
AFM ดำเนินการในโหมดการติดต่อ เพิ่มประสิทธิภาพของภาพที่ถูก
จำกัด การใช้แรเงาและปรับขั้นตอนวิธีการ
วิธีการต่างๆในการวัดโดยใช้ PTR AFM ได้
รับการว่าจ้างมักจะกำหนดโดยซอฟแวร์ที่มีอยู่
ในเครื่องที่ใช้ วิธีการ [14] ที่ใช้สำหรับ
งานนี้ต้องมีการสั่งซื้อ 0 แผ่นำไปใช้กับ
ภาพดิบ ประการที่สองเพื่อระนาบ xy 2 พอดีอัตโนมัติบน
พื้นผิว Altic รายละเอียดของหัวที่เกิดจาก
AFM มีสองส่วนโค้ง (1) รูปแบบของ
หัว (2) คันธนูที่สร้างขึ้นโดยสแกนเนอร์ AFM หากเทปจะ
สันนิษฐานว่าเป็นไปตามรูปแบบของหัวแล้ว Altic TBS
ทั้งสองด้านของหัวที่สามารถใช้ในการสร้างรายละเอียดของ
พื้นผิวที่สามารถหักออกจากภาพทั้งหมด นี้
เป็นประจำไม่เพียง แต่ลบรูปแบบหัว แต่ยังลบ
สแกนเนอร์คันธนู (ซึ่งโดยทั่วไปชุด) ที่สอง
พอดีเครื่องบินเพื่อให้ความสามารถในการลบทรงกลม /
รูปโค้งจากภาพที่ ทิศทางการสแกนเป็นเช่นเดียวกับ
ทิศทางเทปการขี่จักรยานในช่วงการเข้าซื้อกิจการของ AFM
ภาพ อัตราการสแกน 0.4 เฮิร์ตซ์ถูกนำมาใช้และ 512 จุดข้อมูล
ที่ถูกเก็บรวบรวมพร้อมแต่ละ 512 เส้น การดูแลที่ดี
ถูกนำมาในการได้รับข้อมูลดิบจาก AFM ทั้งหมด PTR
ค่ารายงานที่นี่เป็นหกองค์ประกอบค่าเฉลี่ย
ข้อผิดพลาดมาตรฐานในค่า PTR น้อยกว่า 2 นาโนเมตร
สว่านอิเล็กตรอนเปคโทรส (AES) ถูกใช้ในการวิเคราะห์
หัว AES เปิดใช้งานองค์ประกอบธาตุที่จะ
กำหนดจุดที่แตกต่างกันบนพื้นผิวของหัว
กับมมความละเอียดดีกว่า 1 การตรวจสอบสารเคมีต่อไป
ของกลุ่มตัวอย่างเทปได้ดำเนินการโดยวิธีการ Xray
สเปคโทรโฟโตอิเล็กตรอน (XPS) สำหรับเทปบริสุทธิ์
และเทปสวมใส่ในสภาพแวดล้อมที่แตกต่างกัน ทั้ง
การวิเคราะห์ได้รับการดำเนินการในอิเล็กตรอน VG ESCALAB 200D
สเปกโตรมิเตอร์พร้อมกับพลังงานภาคครึ่งวงกลม
วิเคราะห์ มกกา X-รังสีถูกจ้างสำหรับ XPS
การตรวจสอบที่กระตุ้นพลังงานแหล่งที่มาของ 15 เคฟและ
ปัจจุบันการปล่อย 20 mA ผ่านพลังงานวิเคราะห์จาก 20 eV
เวลากับขั้นตอนของการขนาด 0.1 eV และอาศัยอยู่ 100 มิลลิวินาทีถูกนำมาใช้
ตลอด พื้นที่ของการวิเคราะห์ XPS รับเลือกให้เป็น
1 mm2 สำหรับการวิเคราะห์ตัวอย่างแต่ละเทป การวิเคราะห์พื้นที่
ที่ได้รับเลือกในพื้นที่ตรงกลางของเทป
เข้มข้นอะตอมสัมพัทธ์จะถูกคำนวณสำหรับแต่ละ
ตัวอย่างจากความเข้มของโฟโตอิเล็กตรอนใหญ่หรือ
สว่านรางรถไฟโดยความหมายของรหัสที่จดทะเบียนใน
VG คราสระบบข้อมูลที่ใช้ในการ V2.0 ความดันฐาน
ภายในสเปกโตรมิเตอร์ในระหว่างการตรวจสอบอยู่เสมอ
ดีกว่า 5! 10K7 ป่าและนี้ทำให้มั่นใจได้ว่าสัญญาณทั้งหมด
ที่บันทึกมาจากพื้นผิวของตัวอย่าง
Olympus กล้องจุลทรรศน์แสงที่ใช้ในการตรวจสอบหัว
พื้นผิว มีกล้องดิจิตอลโอลิมปัติดตั้งที่เป็น
กล้องจุลทรรศน์แสง ดังนั้นภาพของศีรษะจะได้รับการ
ถ่ายและเก็บไว้ในคอมพิวเตอร์ ขยายสูงสุด
ของภาพคือ 400 ครั้งก็เห็นได้ชัด 1 มม
วัตถุเช่นธัญพืชของเซรามิกและเสาและ
เสาของหัวที่ใช้ร่วมกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ชุดของเงื่อนไขสิ่งแวดล้อมเพื่อปรับปรุงผลตรวจสอบ
.
ข้อมูลภูมิประเทศเกี่ยวกับโครงสร้างทางกายภาพ
ของหัวได้ใช้ thermomicroscope
AFM โหมดการติดต่อ เพิ่มรูป
จำกัดใช้งานแรเงาและอัลกอริทึม .
วิธีต่าง ๆ ใช้วัดการใช้ AFM มี
ถูกจ้างมักจะ dictated โดยซอฟต์แวร์
กับเครื่องมือที่ใช้ วิธี [ 14 ] ใช้
งานนี้ต้องว่า 0th เรียบเพื่อใช้กับ
ภาพดิบ ประการที่สองเพื่อ XY 2 เครื่องบินพอดีอัตโนมัติบนพื้นผิว altic
. โปรไฟล์ของหัวที่สร้างขึ้นโดย
AFM มีองค์ประกอบสองโค้ง ( 1 ) รูปแบบของ
หัว ( 2 ) ธนูที่สร้างขึ้นโดย AFM สแกนเนอร์ ถ้าเทป
สันนิษฐานตามรูปแบบของหัว แล้ว altic TBS
บนทั้งสองข้างของหัว สามารถใช้ในการสร้างโปรไฟล์ของ
พื้นผิวที่สามารถหักออกจากภาพทั้งหมด ขั้นตอนนี้ไม่เพียง แต่หักรูป

แต่ยังหักหัวสแกนเนอร์คันธนู ( ซึ่งโดยทั่วไปเครื่องแบบ ) ที่สอง
สั่งซื้อเครื่องบินพอดี มีความสามารถที่จะลบทรงกลม /
พาราโบลาจากภาพสแกนทิศทางเหมือนกับ
เทปจักรยานทิศทางในการได้มาของภาพ AFM

อัตราการสแกนเป็น 0.4 Hz และใช้ 512 จุดข้อมูล
ถูกเก็บไปตามแต่ละของ 512 สแกนเส้น
ดูแลดีได้รับรับข้อมูลดิบจาก AFM . ค่าทั้งหมดที่ใช้
รายงานที่นี่เป็นหกองค์ประกอบเฉลี่ยค่า
ใช้ค่าความคลาดเคลื่อนมาตรฐานในน้อยกว่า 2 nm .
สว่านอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปี ( AES ) ถูกใช้เพื่อวิเคราะห์
หัว แบบเปิดใช้งานองค์ประกอบธาตุจะแตกต่างกัน
ที่กำหนดจุดบนพื้นผิวของหัว
ที่มีความละเอียดที่ดีกว่า 1 มิลลิเมตร
สอบเคมีเพิ่มเติมของเทปตัวอย่าง ทำการศึกษาโดยวิธี Xray
photoelectron spectroscopy ( XPS )
เทปและเทปในสภาพแวดล้อมที่บริสุทธิ์ใส่ที่แตกต่างกัน ทั้ง
การวิเคราะห์ได้ดำเนินการใน 2 escalab 200d อิเล็กตรอน
Spectrometer พร้อมครึ่งวงกลมพลังงาน
วิเคราะห์ มก. กะรังสีเอ็กซ์ - ใช้สำหรับ XPS
สอบที่แหล่งพลังงานและการกระตุ้นของ 15 เคฟ
ปัจจุบันมา 20 วิเคราะห์ผ่านพลังงาน 20 EV
ขนาดขั้น 0.1 EV และอาศัยเวลา 100 ms ใช้
ตลอด พื้นที่ของการวิเคราะห์ XPS ถูกเลือกเป็น
1 แน่นในการวิเคราะห์ตัวอย่างเทป การวิเคราะห์พื้นที่
ถูกเลือกในเขตกลางของเทป
ญาติอะตอมความเข้มข้นคำนวณสำหรับแต่ละ
ตัวอย่างจากความเข้มของโฟโตอิเล็กตรอนหรือ Auger สเปกตรัมเส้นใหญ่
โดยใช้รหัสรวมใน
VG คราส v2.0 เครื่องมือข้อมูลระบบ ความดันฐาน
ภายในวัดระหว่างสอบก็มักจะ
ดีกว่า 5 10k7 PA และมั่นใจได้ว่าสัญญาณ
บันทึกจากผิวตัวอย่าง
แสงกล้องจุลทรรศน์ Olympus จะใช้ในการตรวจสอบพื้นผิวหัว

มีกล้องดิจิตอลที่ติดตั้งบน
กล้องจุลทรรศน์แสง ดังนั้น ภาพในหัวอาจ
ถ่ายและเก็บไว้ในคอมพิวเตอร์ สูงสุดขยาย
ของภาพ 400 เท่า จึงเห็นได้ 1 มม.
วัตถุเช่น ธัญพืชของเซรามิกและเสาและเสา
ร่วมกันของหัว