IEC 60891:2009 defines procedures t

IEC 60891:2009 defines procedures to be followed for temperature and irradiance corrections to the measured I-V (current-voltage) characteristics of photovoltaic devices. It also defines the procedures used to determine factors relevant for these corrections. Requirements for I-V measurement of photovoltaic devices are laid down in IEC 60904-1. The main technical changes with regard the previous edition are as follows:
- extends edition 1 translation procedure to irradiance change during I-V measurement;
- adds 2 new translation procedures;
- revises procedure for determination of temperature coefficients to include PV modules;
- defines new procedure for determination of internal series resistance;
- defines new procedure for determination of curve correction factor.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

IEC 60891: 2009 ได้กำหนดวิธีการที่จะปฏิบัติตามอุณหภูมิและการแก้ไขรังสีเพื่อวัด iv (ปัจจุบันแรงดัน) ลักษณะของอุปกรณ์ไฟฟ้าโซลาร์เซลล์ นอกจากนี้ยังกำหนดวิธีการที่ใช้ในการกำหนดปัจจัยที่เกี่ยวข้องกับการแก้ไขเหล่านี้ ข้อกำหนดสำหรับการวัดที่สี่ของอุปกรณ์ไฟฟ้าโซลาร์เซลล์จะถูกวางลงใน IEC 60904-1 การเปลี่ยนแปลงทางเทคนิคที่สำคัญในเรื่องเกี่ยวกับรุ่นก่อนหน้ามีดังนี้
- ขยายฉบับที่ 1 ขั้นตอนการแปลเข้มแสงในช่วงการเปลี่ยนแปลงการวัด IV;
- เพิ่ม 2 ขั้นตอนการแปลใหม่
- ทบทวนขั้นตอนการกำหนดค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิจะรวมโมดูล PV;
- กำหนดขั้นตอนใหม่ สำหรับการกำหนดชุดของความต้านทานภายใน
- กำหนดขั้นตอนใหม่สำหรับการกำหนดปัจจัยการแก้ไขเส้นโค้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

IEC 60891:2009 กำหนดขั้นตอนที่จะปฏิบัติตามสำหรับอุณหภูมิและวัดดังกล่าวแก้ไขไฟฟ้า ( แรงดันไฟฟ้าในปัจจุบัน ) คุณลักษณะของอุปกรณ์เซลล์แสงอาทิตย์ นอกจากนี้ยังกำหนดวิธีการที่ใช้เพื่อศึกษาปัจจัยที่เกี่ยวข้องกับการแก้ไขเหล่านี้ ข้อกำหนดสำหรับการวัดไฟฟ้าอุปกรณ์แผงเซลล์แสงอาทิตย์จะถูกวางลงใน IEC 60904-1 .การเปลี่ยนแปลงหลักทางเทคนิคเกี่ยวกับรุ่นก่อนหน้ามีดังนี้ :
- ขยายรุ่น 1 แปลขั้นตอนดังกล่าวเปลี่ยนแปลงในระหว่างการวัดไฟฟ้า ;
- เพิ่ม 2 ขั้นตอนการแปลใหม่ ;
- ขั้นตอนการปรับสำหรับการหาค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิรวมถึงโมดูล PV ;
- นิยามใหม่ของกระบวนการกำหนดภายในชุดความต้านทาน ;
- กำหนดวิธีการใหม่สำหรับการวิเคราะห์ปัจจัย
แก้ไขเส้นโค้ง