The third experiment was carried ou

The third experiment was carried out on for a multi-crystalline silicon solar cell marked as sample #3. Likewise, MPECS applied the same frequencies used for the mono-crystalline solar cells and phase rotation helped to emphasize the effect due to defects. As shown in Fig.9, the sample #3 has a visible crack on the upper left in a photo. As a result of Eddy Current imaging, the C-Scans for both frequencies prove an additional internal crack near the externally visible crack.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การทดลองที่สามได้รับการดำเนินการในซิลิคอนสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์หลายผลึกทำเครื่องหมายเป็นตัวอย่าง # 3 ในทำนองเดียวกัน MPECS ใช้ความถี่เดียวกันกับที่ใช้สำหรับเซลล์แสงอาทิตย์โมโนผลึกและการหมุนเฟสช่วยเพื่อเน้นผลกระทบอันเนื่องมาจากข้อบกพร่อง ดังแสดงในรูปที่ 9 ตัวอย่าง # 3 มีรอยแตกมองเห็นได้บนบนที่เหลืออยู่ในรูปภาพ อันเป็นผลมาจากการถ่ายภาพปัจจุบัน Eddy, C-สแกนสำหรับทั้งความถี่พิสูจน์รอยแตกภายในเพิ่มเติมที่อยู่ใกล้กับรอยแตกมองเห็นได้จากภายนอก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทดสอบที่สามถูกดำเนินการสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์ซิลิคอนหลายผลึกที่ทำเครื่องหมายเป็นตัวอย่าง #3 ในทำนองเดียวกัน MPECS ใช้ความถี่เดียวกับที่ใช้สำหรับเซลล์แสงอาทิตย์โมโนคริสตัลและหมุนเฟสช่วยในการเน้นผลกระทบเนื่องจากข้อบกพร่อง ดังแสดงในรูปที่9ตัวอย่าง #3 มีรอยร้าวที่มองเห็นได้ที่ด้านบนซ้ายในภาพ อันเป็นผลมาจากการถ่ายภาพกระแสไหลวน, สแกน C สำหรับความถี่ทั้งสองพิสูจน์การแตกภายในเพิ่มเติมใกล้กับรอยแตกที่มองเห็นภายนอก. ...

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การทดลองที่สามคือซิลิคอนโพลีเซลล์แสงอาทิตย์ที่ทำเครื่องหมายเป็นตัวอย่าง 3 ในทำนองเดียวกัน MPECS ใช้ความถี่เดียวกันเป็นเซลล์แสงอาทิตย์ผลึกเดี่ยวและระยะการหมุนช่วยเน้นผลกระทบของข้อบกพร่อง ดังที่แสดงในรูปเก้าตัวอย่าง 3 มีรอยแตกที่มองเห็นได้ในมุมซ้ายบนของภาพ เป็นผลจากการถ่ายภาพ Eddy ปัจจุบันทั้งความถี่ C สแกนได้พิสูจน์แล้วว่ามีรอยแตกภายในเพิ่มเติมใกล้รอยแตกที่มองเห็นได้จากภายนอก