The fungal pellets obtained at the

The fungal pellets obtained at the optimized growth conditions were further considered for
scanning electron microscopic (SEM, Carl Zeiss EVO® 50) analysis to have a highly
magnified view of the surface morphology. To prepare for SEM, cleaned fungal pellets were
air-dried on a microscopic glass slide at isolated position overnight at room temperature (25±
1 °C). Dried samples were directly mounted on a SEM grid and sputter coated (SPI Module
Sputter Coater) with gold before SEM analysis. Both size and shape were analyzed to confirm
the parameter effects on R. oryzae morphology

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ขี้เชื้อราที่ได้รับในเงื่อนไขเพิ่มประสิทธิภาพการเจริญเติบโตได้พิจารณาเพิ่มเติมสำหรับการสแกนอิเล็กตรอนด้วยกล้องจุลทรรศน์ (SEM, Carl Zeiss EVO ® 50) วิเคราะห์ต้องการสูงมุมมองขยายของสัณฐานวิทยาผิว การเตรียมตัวสำหรับ SEM เกล็ดทำความสะอาดเชื้อราได้air-dried บนภาพนิ่งกล้องจุลทรรศน์แก้วที่ตำแหน่งแยกข้ามคืนที่อุณหภูมิห้อง (25±1 ° C) ตัวอย่างแห้งถูกติดตั้งโดยตรงบนตาราง SEM และ sputter เคลือบ (โมดูล SPISputter Coater) ทองก่อนการวิเคราะห์ SEM ขนาดและรูปร่างที่ถูกวิเคราะห์เพื่อยืนยันผลพารามิเตอร์ในสัณฐานวิทยาอาร์แห้งระดับต่าง ๆ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เม็ดเชื้อราได้รับที่ดีที่สุดสภาวะการเจริญเติบโตได้รับการพิจารณาต่อไปสำหรับการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, Carl Zeiss EVO® 50) การวิเคราะห์จะมีสูงมุมมองภาพขยายสัณฐานวิทยาของพื้นผิว เพื่อเตรียมความพร้อมสำหรับ SEM ทำความสะอาดเชื้อราเม็ดมีอากาศแห้งบนสไลด์แก้วกล้องจุลทรรศน์ในตำแหน่งแยกค้างคืนที่อุณหภูมิห้อง(25 ± 1 ° C) ตัวอย่างแห้งที่ถูกติดตั้งโดยตรงบนตาราง SEM และพ่นเคลือบ (SPI โมดูลพ่นCoater) ด้วยทองคำก่อนที่จะวิเคราะห์ SEM ทั้งขนาดและรูปร่างที่ได้มาวิเคราะห์เพื่อยืนยันผลกระทบพารามิเตอร์สัณฐานอาร์ oryzae

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เม็ดเพิ่มประสิทธิภาพการเจริญเติบโตของเชื้อราได้ ในเงื่อนไขการพิจารณาไป
สแกนทางกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM , Carl Zeiss Evo ® 50 ) การวิเคราะห์มีสูง
ขยายมุมมองของลักษณะพื้นผิว . เพื่อเตรียมความพร้อมสำหรับ SEM , ทำความสะอาดเชื้อราอัตรา
อากาศแห้งบนกระจกสไลด์กล้องจุลทรรศน์ที่แยกตำแหน่งค้างคืนที่อุณหภูมิห้อง ( 25 ±
1 ° C )แห้งโดยตรงติดตั้งบน SEM ตารางและละล่ำละลักเคลือบ ( SPI Module
ละล่ำละลัก coater ) กับทองก่อนการวิเคราะห์ SEM ทั้งขนาดและรูปร่างที่ได้มาวิเคราะห์เพื่อยืนยัน
พารามิเตอร์ต่อ R . oryzae สัณฐาน