CharacterizationFTIR absorption spe

Characterization
FTIR absorption spectra of the synthesized sols, coatings, and films were obtained using a Nicolet 550 spectrometer. The synthesized ZrO2 sol was dropped onto a KBr disk and dried in vacuum. For the cured sample, the coating sol was dropped onto a KBr disk, pre-baked at 80C, then UV-cured, and post-baked at 100C. For all scans, the spectra were collected over the wavenumber range of 400–4000 cm1 with a resolution of 4 cm1. Solid-state 29Si-NMR spectra of the cured coatings were recorded on a Bruker DSX400 WB spectrometer at 79.49 MHz. The chemical shifts were expressed in ppm with respect to tetramethylsilane. The size of ZrO2 particles suspended in the sol was determined by dynamic light scattering (DLS), using a Zetasizer (Malvern, DTS 3000HS) at 25C at the concentration of 0.5 wt%.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จำแนกลักษณะสเปกตรัมดูดซึม FTIR sols สังเคราะห์ เคลือบ และภาพยนตร์ได้รับโดยใช้สเปกโตรมิเตอร์ Nicolet 550 โซล ZrO2 สังเคราะห์ถูกทิ้งบนดิสก์ KBr และแห้งในสุญญากาศ สำหรับตัวอย่างหาย โซลเคลือบได้กระตุกในดิสก์ KBr อบก่อนที่ 80 C แล้ว UV-หาย และหลังอบที่ 100 c ครับ สเป็คถูกเก็บรวบรวมผ่านช่วง wavenumber cm1 400-4000 มีความละเอียด 4 cm1 โซลิดสเตท 29Si-NMR สเปกตรัมเคลือบหายมีบันทึกไว้เป็นสเปกโตรมิเตอร์ Bruker DSX400 WB ที่ 79.49 MHz กะเคมีถูกแสดงใน ppm เกี่ยวกับ tetramethylsilane กำหนดขนาดของอนุภาค ZrO2 ในโซลที่ โดยแสงแบบไดนามิก scattering (DLS), โดยใช้ Zetasizer (มัลเวิร์น DTS 3000HS) ที่ 25C ที่ความเข้มข้น 0.5% wt

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวละคร
FTIR ดูดซึมสเปกตรัมของรัชทายาทสังเคราะห์เคลือบและภาพยนตร์ที่ได้รับใช้ Nicolet 550 สเปกโตรมิเตอร์ สังเคราะห์ ZrO2 Sol ถูกทิ้งลงบนดิสก์ KBr และแห้งในสูญญากาศ สำหรับตัวอย่างหายโซลสารเคลือบผิวที่ถูกทิ้งลงบนดิสก์ KBr ก่อนอบที่ 80C แล้ว UV-หายและหลังการอบที่ 100C การสแกนทั้งหมดสเปกตรัมที่ถูกเก็บรวบรวมในช่วงของ wavenumber 400-4000 CM1 ที่มีความละเอียด 4 CM1 solid-state-29Si NMR สเปกตรัมของการเคลือบรักษาให้หายขาดได้ถูกบันทึกไว้ในสเปกโตรมิเตอร์ Bruker DSX400 WB ที่ 79.49 MHz กะเคมีแสดงใน ppm ส่วนที่เกี่ยวกับ tetramethylsilane ขนาดของอนุภาคแขวนลอยใน ZrO2 โซลถูกกำหนดโดยการกระเจิงของแสงแบบไดนามิก (DLS) โดยใช้ Zetasizer (เวิร์น, DTS 3000HS) ที่ 25 องศาเซลเซียสที่ความเข้มข้น 0.5% โดยน้ำหนัก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

คุณลักษณะFTIR สเปกตรัมการดูดกลืนของสังเคราะห์ซอลส์ , เคลือบ , และภาพยนตร์ที่ได้รับการ nicolet 550 สเปกโตรมิเตอร์ การสังเคราะห์โซลถูกทิ้งลงบน KBR ZrO2 ดิสก์และแห้งในสูญญากาศ สำหรับการรักษาตัวอย่างโซลเคลือบลงบน KBR ดิสก์ก่อนอบที่ 80c แล้ว UV หาย และอบที่โพสต์ 100B ทั้งหมดสแกนสเปกตรัมจำนวนกว่า wavenumber ช่วง 400 – 4000 CM1 ด้วยความละเอียด 4 CM1 . ของแข็งรัฐ 29si NMR สเปกตรัมของการรักษาเคลือบที่ถูกบันทึกไว้ในกล้อง WB BRUKER dsx400 ที่ 79.49 MHz เคมีกะถูกแสดงออกใน ppm ส่วนเตตร้าเมทิลไซเลน . ขนาดของอนุภาคแขวนลอยใน ZrO2 โซลถูกกำหนดโดยแบบไดนามิก การกระจายแสง ( dls ) ใช้เซตาไซเซอร์ ( Malvern DTS , 3000hs ) ที่ 25C ที่ความเข้มข้น 0.5 เปอร์เซ็นต์โดยน้ำหนัก