AFM measurements were carried out w

AFM measurements were carried out with a Dimension D3100 using a NanoScope IV controller equipped with a hybrid 153 scanner (Veeco/Digital Instruments (DI), Santa Barbara, CA) under ambient conditions

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัด AFM ถูกดำเนินการกับ D3100 ขนาดโดยใช้ตัวควบคุม NanoScope IV พร้อมสแกนเนอร์ไฮบริ 153 (Veeco/ดิจิตอล เครื่องมือ (DI) ซานตาบาร์บาร่า CA) ภายใต้สภาพแวดล้อม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัด AFM ถูกดำเนินการกับ D3100 ขนาดโดยใช้ตัวควบคุม IV NanoScope พร้อมกับไฮบริด 153 สแกนเนอร์ (วีโก้ / ดิจิตอลเครื่องมือ (DI), ซานตาบาร์บารา) ภายใต้สภาวะแวดล้อม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

AFM วัดได้ทดลองกับมิติ d3100 โดยใช้นาโนสโคป 4 ตัวควบคุมพร้อมกับลูกผสม 153 สแกนเนอร์ ( VEECO / เครื่องมือดิจิตอล ( Di ) , ซานตาบาร์บารา , แคลิฟอร์เนีย ) ภายใต้สภาวะแวดล้อม