For SEM examination pieces of wings

For SEM examination pieces of wings were attached to the sample holders and covered by 20 nm of sputtered gold to avoid charging.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

SEM ตรวจ ชิ้นส่วนของปีกกับใส่ตัวอย่าง และครอบคลุม โดย 20 nm sputtered ทองคำเพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับ SEM ชิ้นตรวจสอบของปีกติดอยู่กับผู้ถือตัวอย่างและปกคลุมด้วย 20 นาโนเมตรทอง sputtered เพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับ SEM ตรวจสอบชิ้นปีกได้แนบตัวอย่างและผู้ถือครอบคลุม 20 nm ของ sputtered ทองเพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จ