ืAllowable electron transitions in

ืAllowable electron transitions in K,L and M shell. (Reproduced with kind permission of Springer Science and Business Media from J.I. Goldstein et al, Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, 2nd ed., plenum Press, New York. 1992 Springer Science.)
electron transition from the L1 to the K shell is forbidden because the l change would be zero, which would violate the selection rule. 6.2 shows the shell structures of electrons and the possible characteristic X-ray emitted when an electron transitions to a K, L or M shell. 6.2also shows that the characteristic X-ray can be classified as K, L or M series, according the ground state of the electron transition. The Siegbahn Notation is commonly used to specify a characteristic X-ray line. The Siegbahn Notation comprises a capital English letter, a lower-case Greek letter and a subscript number.
6.3 Primary X-ray radiation generated by the X-ray tube, including continuous and characteristic radiations.
L_(γ_1 ) N_4→L_2
M_(α_1 ) N_7→M_5
M_β N_6→M_4
Generally, the Greek letters indicate the general order of the X-ray intensity, where the X-ray intensity of 1>2>3. 6.3illustrates the relative intensities of K and B on top of continuous X-ray radiation. The subscript number also indicates the relative intensity, with number*1 as the highest.
6.1.2 comparison of K,L and M Series
An atom's ability to generate characteristic X-ray photons varies when it is irradiated by high energy X-ray photons or electrons. First, there is an emission competition between the characteristic X-ray photon and the Auger electron when an electron refills an inner shell vacancy. A parameter, fluorescent yield, has been use to measure the relative effectiveness of X-ray generation. shows the fluorescent yield () variation in K,L and M series for a range of atomic numbers. Table 6.2 lists the values of fluorescent yields of some elements in the K, L and M series.
For an atom with an atomic number lower than 4 (Be), the fluorescent yield is zero, and for an atomic number lower than 8 (O), the yield is less than 0.5%. Generally, the fluorescent yield increases. with atomic number as shown in Figure 6.4. Thus, there is an intrinsic disadvantage for detection of light elements using X-ray spectroscopy. Figure 6.4 also indicates that the generation of the K series X-rays is more effective than the L and M series X-rays. It means that the intensity of the K series X-rays is always higher than the L series , and in the turn, the L series is always higher than the M series. The Fluorescent yield is zero for the L series when the atomic number is lower than 20 (), and for the M series when the atomic number is less than 57().
6.4 Fluorescent yield variation with atomic number and with the K, L and M characteristic lines.
Another difference among the K, L and M lines is their energy levels (or wavelengths). The energy of K series is the highest, followed by L and M series as shown in Figure 6.5. Table 6.3 lists K, M and L wavelengths and energies for selected elements. A typical X-ray energy spectrum is in a range from 0.2 to 20 kev. Thus, the Au will be absent in such a spectrum. In general, the L and the M lines of heavy elements are much more likely than their K lines to be detected by an X-ray spectrometer because the energies of the K lines are likely to be higher than 20 keV. An X-ray spectrum of a high atomic number element is complicated because of the existence of X-rays from different series. On the other hand, the spectra of atomic numbers lower than 20 (Cu) contain only the K lines. The energies of L and M lines for low atomic numbers, as the fluorescent yield, can be too low to be detected in the X-ray spectrometer.
6.2
X-ray fluorescence spectrometry (XRF) analyzes the chemical elements of specimens by detected the characteristic X-rays emitted from the specimens after radiation by high-energy primary X-rays. The characteristic X-rays can be analyzed from either their wavelengths or energies. Thus, there are two types of XRF. wavelength dispersive spectroscopy() and energy dispersive spectroscopy()

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ืAllowable เปลี่ยนภาพอิเล็กตรอนในเชลล์ K, L และ M (ทำซ้ำ มีสิทธิ์ประเภท Springer วิทยาศาสตร์และสื่อธุรกิจ J.I. Goldstein et al สแกนอิเล็กตรอน Microscopy และเอ็กซ์เรย์ Microanalysis อุตสาหกรรมมหาบัณฑิต 2, plenum กด นิวยอร์ก. 1992 Springer วิทยาศาสตร์)
อิเล็กตรอนเปลี่ยนแปลงจาก L1 เชลล์ K ถูกห้ามเนื่องจากเปลี่ยน l จะเท่ากับศูนย์ การละเมิดกฎการเลือก 6.2 แสดงโครงสร้างของเปลือกของอิเล็กตรอนและเอ็กซ์เรย์ลักษณะสามารถเปล่งออกมาเมื่ออิเล็กตรอนมีเปลี่ยนให้เชลล์ K, L หรือ M 6.2also แสดงว่า เอ็กซ์เรย์ลักษณะสามารถจัดชุด K, L หรือ M ตามสถานะพื้นภาพอิเล็กตรอน โดยทั่วไปใช้สัญลักษณ์ Siegbahn เพื่อระบุลักษณะเส้นเอ็กซ์เรย์ สัญลักษณ์ Siegbahn ประกอบด้วยตัวอักษรภาษาอังกฤษทุน ตัวอักษรกรีกเล็ก กเป็นตัวห้อยเลข
6.3 รังสีเอกซเรย์หลักที่สร้างขึ้น โดยหลอดเอ็กซ์เรย์ รวมอย่างต่อเนื่อง และลักษณะ radiations.
L_ (γ_1) N_4→L_2
M_ (α_1) N_7→M_5
M_β N_6→M_4
ทั่วไป ตัวอักษรกรีกระบุใบสั่งทั่วไปของความเข้มการเอ็กซ์เรย์ ที่ความเข้มเอกซเรย์ 1 > 2 > 3 63illustrates ปลดปล่อยก๊าซญาติของ K และ B บนรังสีเอกซเรย์อย่างต่อเนื่อง หมายเลขตัวห้อยยังระบุความเข้มสัมพัทธ์ มี * 1 เป็นสูงสุด.
6.1.2 เปรียบเทียบ K, L และ M ชุด
ของอะตอมสามารถสร้างลักษณะ photons เอกซเรย์ไปจนเมื่อมันเป็น irradiated โดย photons เอกซเรย์พลังงานสูงอิเล็กตรอน ครั้งแรก มีการแข่งขันปล่อยก๊าซระหว่างเราเอ็กซ์เรย์ลักษณะและอิเล็กตรอนแบบ Auger เมื่ออิเล็กตรอน refills ตำแหน่งที่ว่างภายในเปลือก มีการใช้พารามิเตอร์ เรืองแสงการพิมพ์ เพื่อวัดประสิทธิภาพสัมพัทธ์รุ่นเอ็กซ์เรย์ แสดงการเปลี่ยนแปลง()ผลตอบแทนที่เรืองแสงในชุด K, L และ M มีเลขอะตอม ตาราง 6 การ2 แสดงค่าของอัตราผลตอบแทนเรืองแสงขององค์ประกอบบางอย่างใน K, L และ M ชุด
สำหรับอะตอมด้วยเลขอะตอมต่ำกว่า 4 (ถูก), ผลตอบแทนฟลูออเรสศูนย์ และการมีเลขอะตอมต่ำกว่า 8 (O), ผลตอบแทน น้อยกว่า 0.5% ทั่วไป พิมพ์เรืองแสงเพิ่มขึ้น มีเลขอะตอมดังแสดงในรูปที่ 6.4 ดังนั้น มีข้อเสียที่ intrinsic ตรวจองค์ประกอบแสงใช้เอ็กซ์เรย์ก รูป 6.4 ยังบ่งชี้ว่า การสร้างรังสีเอกซ์ชุด K มีประสิทธิภาพมากขึ้นกว่าชุด L และ M X-rays หมายความ ว่า ความเข้มของรังสีเอกซ์ชุด K จะสูงกว่าชุด L และในเลี้ยว ชุด L เสมอสูงกว่าชุด M ผลตอบแทนฟลูออเรสเป็นศูนย์ สำหรับชุด L เมื่อเลขอะตอมต่ำกว่า(20) และชุด M เมื่อเลขอะตอม ()น้อยกว่า 57.
สามีพิมพ์เรืองแสงเปลี่ยนแปลงเลขอะตอม และ กับ K, L และ M ลักษณะบรรทัด
อีกความแตกต่างระหว่างบรรทัด K, L และ M คือ ระดับพลังงานของพวกเขา (หรือความยาวคลื่น) พลังงานของชุด K เป็นสูงสุด ตาม ด้วย L และ M ดังแสดงในรูป 6.5 รายการตาราง 6.3 K, M และ L ความยาวคลื่น และพลังงานสำหรับองค์ประกอบที่เลือก เป็นคลื่นพลังงานเอกซเรย์ทั่วไปอยู่ในช่วงตั้งแต่ 0.2 ถึง 20 kev ดังนั้น อูจะขาดในสเปกตรัมดังกล่าว ทั่วไป L และใบ M หนักองค์ประกอบมีแนวโน้มมากขึ้นกว่าบรรทัด K ถูกตรวจ โดยการเอกซเรย์สเปกโตรมิเตอร์เนื่องจากพลังงานของบรรทัด K มีแนวโน้มที่จะสูงกว่า 20 keV สเปกตรัมการเอ็กซ์เรย์ของเลขอะตอมสูงองค์ประกอบมีความซับซ้อนเนื่องจากการดำรงอยู่ของรังสีเอกซ์จากชุดอื่น ในทางตรงข้าม แรมสเป็คตราเลขอะตอมต่ำกว่า 20 (Cu) ประกอบด้วยเฉพาะบรรทัด K พลังงานของบรรทัดเลขอะตอมต่ำ เป็นผลตอบแทนฟลูออเรส L และ M อาจต่ำเกินไปจะพบในเอกซเรย์สเปกโตรมิเตอร์
6.2
เอ็กซ์เรย์ fluorescence spectrometry (XRF) สารเคมีวิเคราะห์องค์ประกอบไว้เป็นตัวอย่างโดยตรวจพบรังสีเอกซ์ออกมาจาก specimens หลังจากฉายรังสีจากรังสีเอกซ์หลัก high-energy ลักษณะ สามารถทำวิเคราะห์รังสีเอกซ์ลักษณะของความยาวคลื่นหรือพลังงาน ดังนั้น มีสองประเภทของ XRF spectroscopy() dispersive ความยาวคลื่นและพลังงาน dispersive spectroscopy()

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลการือิเล็กตรอนใน K , L และ M เปลือก ( ทำซ้ำมีสิทธิ์ชนิดของวิทยาศาสตร์ Springer และสื่อธุรกิจจาก j.i. Goldstein et al , กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด และเอกซเรย์ จัดเรียงกันอยู่ 2 เอ็ด Plenum , กด , New York สปริงเกอร์ 1992 วิทยาศาสตร์ )
อิเล็กตรอนเปลี่ยนจาก L1 กับ K เปลือกเป็นสิ่งต้องห้าม เพราะผมเปลี่ยนเป็นศูนย์ ซึ่งจะขัดต่อการปกครอง6.2 แสดงเปลือกโครงสร้างของอิเล็กตรอนและรังสีที่ปล่อยออกมาเมื่อเป็นไปได้ลักษณะอิเล็กตรอนเปลี่ยนเป็น K L M เปลือกหรือ 6.2also แสดงว่ารังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะที่สามารถจัดเป็น K , L หรือ M Series ตามสภาพพื้นดินของอิเล็กตรอนเปลี่ยน ส่วน ซีกบาห์นโน้ตเป็นที่นิยมใช้เพื่อระบุเส้นรังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะ .ส่วน ซีกบาห์นสัญกรณ์ประกอบด้วยอักษรตัวใหญ่ภาษาอังกฤษ ตัวพิมพ์เล็กตัวอักษรกรีกและตัวห้อยเลข .
6 หลักที่สร้างขึ้นโดยหลอดรังสีเอกซ์รังสีเอกซเรย์ รวมทั้งรังสีอย่างต่อเนื่องและลักษณะ .
l_ ( γ _1 ) n_4 → keyboard - key - name l_2
m_ ( α _1 ) n_7 → keyboard - key - name m_5
m_ บีตา n_6 → keyboard - key - name m_4
โดยทั่วไป ตัวอักษรกรีกระบุลำดับทั่วไปของรังสีเอกซ์ความเข้มรังสีเอกซ์ความเข้มที่ 1 > 2 > 3 6 .3illustrates เทียบความเข้มของ K และ B ที่ด้านบนของรังสีรังสีเอกซ์แบบต่อเนื่อง มีตัวห้อยเบอร์ยังบ่งชี้ว่า ความเข้มสัมพัทธ์ กับหมายเลข * 1 สูงสุด
รเปรียบเทียบของ K , L และ M
ชุดของอะตอมสามารถสร้างลักษณะเอกซเรย์โฟตอนจะแตกต่างกันเมื่อมีรังสีโฟตอนพลังงานสูงรังสีเอกซ์ หรืออิเล็กตรอน ครั้งแรกมีการแข่งขันระหว่างลักษณะการเอกซเรย์โฟตอน อิเล็กตรอน เมื่ออิเล็กตรอนและสว่านเติมมีตำแหน่งว่างเปลือกชั้นใน พารามิเตอร์ผลผลิตเรืองแสง , ถูกใช้เพื่อวัดประสิทธิภาพสัมพัทธ์ของรุ่นเอ็กซ์เรย์ แสดงผลเรืองแสง ( ) การเปลี่ยนแปลงใน K , L และ M Series สำหรับช่วงของตัวเลข ตารางที่ 62 รายการค่าฟลูออเรสเซนต์ผลผลิตขององค์ประกอบบางส่วนใน K , L และชุด M .
สำหรับอะตอมที่มีเลขอะตอมน้อยกว่า 4 ( ถูก ) ผลผลิตเรืองแสงคือศูนย์ และมีเลขอะตอมน้อยกว่า 8 ( O ) , อัตราผลตอบแทนน้อยกว่า 0.5 % โดยทั่วไป การเพิ่มผลผลิตการเรืองแสง ที่มีเลขอะตอมดังแสดงในรูปที่ 4 . ดังนั้นมีข้อเสียที่แท้จริงสำหรับการตรวจหาองค์ประกอบของแสงโดยใช้เอกซ์เรย์ . รูปที่ 6.4 แสดงให้เห็นว่ารุ่นของชุด K X-rays มีประสิทธิภาพมากกว่า L และ M และชุด มันหมายถึงว่า ความเข้มข้นของ K ชุดยุอยู่เสมอสูงกว่า L Series และเปิด L Series อยู่เสมอสูงกว่า M Seriesผลผลิตเรืองแสงเป็นศูนย์สำหรับ L Series เมื่อเลขอะตอมน้อยกว่า 20 ( ) และชุด M เมื่อเลขอะตอมน้อยกว่า 57() .
6.4 เรืองแสงผลผลิตการเปลี่ยนแปลงเลขอะตอมและ K , L และ M ลักษณะเส้น
ความแตกต่างระหว่าง K , L และ M บรรทัด คือระดับพลังงานของพวกเขา ( หรือความยาวคลื่น ) พลังงานของชุด K เป็นสูงสุดตามด้วย L และ M ซีรี่ส์ดังแสดงในรูปที่ 6.5 . ตารางที่ 6.3 รายการ K , M และ L ความยาวคลื่นและพลังงานเพื่อเลือกองค์ประกอบ โดยทั่วไปรังสีสเปกตรัมพลังงานอยู่ในช่วง 0.2 ถึง 20 เคฟ ดังนั้น , AU จะขาดเช่นในสเปกตรัม โดยทั่วไปL และ M สายธาตุที่หนักมากกว่าสาย K ของพวกเขาที่จะตรวจพบโดยเครื่อง X-ray Spectrometer เพราะพลัง K สายมีแนวโน้มที่จะสูงกว่า 20 เคฟ รังสีเอ็กซ์สเปกตรัมของอะตอมธาตุสูงซับซ้อนเพราะการมีอยู่ของรังสีเอกซ์จากคนละชุด บนมืออื่น ๆสเปกตรัมของอะตอมตัวเลขต่ำกว่า 20 ( จุฬาฯ ) มีเพียง K บรรทัด พลัง L และ M สายสำหรับตัวเลขอะตอมต่ำ ขณะที่ผลผลิตเรืองแสงสามารถต่ำเกินไปที่จะตรวจพบในเครื่อง 6.2

สเปกโตรมิเตอร์วิธีเรืองรังสีเอกซ์ ( XRF ) วิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของตัวอย่าง โดยตรวจพบลักษณะรังสีเอกซ์ออกมาจากตัวอย่างหลังจากการฉายรังสีพลังงานสูงโดยการเอ็กซเรย์ รังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะ สามารถวิเคราะห์ได้จากทั้งของความยาวคลื่นหรือพลังงาน . ดังนั้น มีอยู่สองชนิดของ XRF . ความยาวคลื่นและพลังงานกระจายตัว spectroscopy()
spectroscopy() กระจายตัว