2.4. X-ray diffraction analysis [XR

2.4. X-ray diffraction analysis [XRD].
XRD pattern were measured using PAN analytical Expert Pro instrument. The synthesized samples were scanned from 0 to 80◦C at a scanning rate of 3◦c/ Min

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.4 การการวิเคราะห์เอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน [XRD]รูป XRD ถูกวัดโดยใช้เครื่องมือ Pro ผู้เชี่ยวชาญวิเคราะห์แพน ตัวอย่างที่สังเคราะห์ได้สแกนจาก 0 ไป 80◦C ในอัตราการสแกน 3◦c / Min

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4 การวิเคราะห์ X-ray diffraction [XRD].
รูปแบบ XRD ถูกวัดโดยใช้เครื่องมือที่ใช้ในการวิเคราะห์ PAN Pro ผู้เชี่ยวชาญ ตัวอย่างสังเคราะห์ถูกสแกนจาก 0 ถึง80◦Cในอัตราการสแกน3◦c / นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.4 . การวิเคราะห์โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ XRD ) แบบวัดการใช้กระทะ
XRD วิเคราะห์ผู้เชี่ยวชาญ Pro เครื่องมือ สังเคราะห์จำนวนสแกนจาก 0 ถึง 80 ◦ C ที่อัตราการสแกน 3 ◦ C / นาที