In order to examine the film struct

In order to examine the film structure, X-ray
diffraction experiments (XRD) were undertaken in a Philips PW
1710 apparatus, using Cu Kα radiation, with a step size of 0.02°,
a counting time of 1.25°/s and a gas detector.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การตรวจสอบโครงสร้างฟิล์ม เอ็กซ์เรย์ได้ทำการทดลองการเลี้ยวเบน (XRD) PW ฟิลิปส์1710 เครื่อง ใช้ Cu Kα รังสี ขั้นตอนขนาด 0.02°เวลานับ 1.25 ° /s และจับก๊าซ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อที่จะตรวจสอบโครงสร้างของฟิล์ม X-ray
การทดลองการเลี้ยวเบน (XRD) ได้รับการดำเนินการในฟิลิปส์ PW
1710 เครื่องใช้รังสี Cu Kαมีขนาดขั้นตอนของ 0.02 °,
เวลานับ 1.25 ° / วินาทีและเครื่องตรวจจับก๊าซ .

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อศึกษาโครงสร้างของภาพยนตร์ โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์
การทดลอง ( XRD ) เคยดังในฟิลิปส์ PW
1710 เครื่องโดยใช้ Cu K αรังสี ด้วยขั้นตอนขนาด 0.02 /
, นับเวลา 1.25 / / s และก๊าซ .