2.5. Scanning electron microscopy a

2.5. Scanning electron microscopy analysis
Freeze-dried samples were cut with a razor blade and cut surface samples were prepared by sticking onto double-sided adhesive tape attached to a circular specimen stub. The samples were viewed using an environmental scanning electron microscope (ESEM) (Quanta200F, FEI Deutschland GmbH, Kassel, Germany) at 30 kV and 3.0 spot size (Chen et al., 2012).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.5. ชาวดัตช์วิเคราะห์การสแกนตัวอย่างกรอบถูกตัด ด้วยใบมีดโกน และมีเตรียมตัวอย่างพื้นผิวตัดติดลงบนเทปกาวสองหน้าแนบกับโครงวงกลมอย่าง เข้าชมตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่องกราดสิ่งแวดล้อม (ESEM) (Quanta200F เฟยกำลัง GmbH คัสเซิล เยอรมัน) ที่ 30 kV และขนาด 3.0 (Chen et al. 2012)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.5 อิเล็กตรอนสแกนวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์
แห้งตัวอย่างที่ถูกตัดด้วยใบมีดโกนและตัวอย่างพื้นผิวตัดได้จัดทำขึ้นโดยการเกาะบนสองด้านเทปกาวยึดติดอยู่กับต้นขั้วตัวอย่างวงกลม กลุ่มตัวอย่างที่ถูกมองว่าใช้สแกนสิ่งแวดล้อมกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ESEM) (Quanta200F เฟ Deutschland GmbH, Kassel, เยอรมนี) วันที่ 30 กิโลโวลต์และขนาดของจุด 3.0 (Chen et al., 2012)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.5 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดวิเคราะห์ตรึงแห้งจำนวนตัดด้วยมีดและตัดตัวอย่างพื้นผิว เตรียมลงบนเทปกาวสองหน้าติดแนบกับโคนชิ้นงานวงกลม จำนวนที่ดูใช้สิ่งแวดล้อมกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( ESEM ) ( quanta200f เฟย , Deutschland GmbH , คัสเซิล , เยอรมนี ) ที่ 30 กิโล และขนาด 3.0 จุด ( Chen et al . , 2012 )