X-ray diffraction (XRD) is a non-de

X-ray diffraction (XRD) is a non-destructive analytical characterization method to determine the crystal phase and structure. An X-ray diffractometer generates an X-ray beam striking a material as a function of incident and scattered angle, polarization, and wavelength or energy. Both the unit cell size and geometry are resolved from the angular positions of the X-ray diffraction peaks.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (XRD) เป็นวิธีการวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะเชิงวิเคราะห์แบบไม่ทำลายเพื่อกำหนดเฟสและโครงสร้างของผลึก เครื่องวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์จะสร้างลำแสงรังสีเอกซ์ที่กระทบกับวัสดุโดยอาศัยฟังก์ชันของมุมตกกระทบและมุมที่กระเจิง โพลาไรเซชัน และความยาวคลื่นหรือพลังงาน ทั้งขนาดเซลล์หน่วยและรูปทรงได้รับการแก้ไขจากตำแหน่งเชิงมุมของพีคของการเลี้ยวเบน รังสีเอกซ์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การเบี่ยงเบนของรังสีเอกซ์ (XRD) เป็นวิธีการวิเคราะห์แบบไม่ทำลาย
การกำหนดเฟสผลึกและโครงสร้าง X-ray Diffuser ผลิตลำแสง X-ray
ตีวัสดุเป็นฟังก์ชั่นของมุมตกและกระเจิงมุมโพลาไรซ์และความยาวคลื่นหรือ
พลังงาน ขนาดของเซลล์และรูปทรงเรขาคณิตจะถูกวิเคราะห์โดยตำแหน่งเชิงมุมของรังสีเอกซ์
ยอดการเลี้ยวเบน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์( XRD )เป็นวิธีการวิเคราะห์แบบไม่ทําลาย
กําหนดเฟสคริสตัลและโครงสร้าง เครื่องวัดการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์สร้างรังสีเอกซ์
วัสดุผลกระทบเป็นหน้าที่ของมุมที่เกิดขึ้นและมุมกระเจิงโพลาไรซ์และความยาวคลื่นหรือ
พลังงาน. ขนาดและรูปทรงเรขาคณิตของเซลล์จะถูกวิเคราะห์จากมุมของรังสีเอกซ์
จุดสูงสุดของการเลี้ยวเบน.