The surface organic structuresof th

The surface organic structures
of the raw material and AC were studied by FT-IR spectra
recorded at 4 cm−1 of resolution and 20 scans min−1 between 4000
and 400 cm−1 using a Bomem MB-100 spectrometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างอินทรีย์ผิววัตถุดิบและ AC ได้ศึกษา โดย FT-IR แรมสเป็คตราบันทึกที่ 4 cm−1 ของความละเอียดและสแกน 20 min−1 ระหว่าง 4000400 cm−1 ใช้สเปกโตรมิเตอร์ Bomem MB 100

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวโครงสร้างอินทรีย์ของวัตถุดิบและ AC กำลังศึกษาสเปกตรัม FT-IR บันทึกที่ 4 ซม-1 ความละเอียดการสแกนและ 20 นาที 1 ระหว่าง 4000 และ 400 ซม-1 ใช้ Bomem MB-100 สเปกโตรมิเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างพื้นผิวอินทรีย์
ของวัตถุดิบและ AC ศึกษาโดย FT-IR สเปกต
บันทึกที่ 4 cm − 1 ความละเอียด 20 สแกนมิน− 1 ระหว่าง 4000
และ 400 cm − 1 ใช้ bomem mb-100 สเปคโตรมิเตอร์