The XRD patterns obtained from (1
x

The XRD patterns obtained from (1
x)BNT–xBKT ceramics(0.12 rxr 0.30) with Cu-Kα radiation are shown in Fig. 1. Fig. 1 shows the XRD patterns with 2θ ranging from 20–701. Eachof the ceramics exhibited a single perovskite phase and any secondary phase wasno tobserved.In the case of samples with x 40.12,XRD peaks slightly shifted to lower angles compared with the 0.80BNT- 0.20BKT pattern ,indicating an in crease in the lattice parameters.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการ XRD จากเซรามิก BNT – xBKT (1 x) (0.12 rxr 0.30) กับรังสี Cu-Kα จะแสดงในรูปที่ 1 รูปที่ 1 แสดงรูปแบบ XRD กับ 2θ ตั้งแต่ 20 – 701 Eachof เซรามิกส์จัดแสดงขั้นตอนเดียว perovskite และ tobserved wasno เฟสรองใด ๆ ในกรณีตัวอย่างที่มี x 40.12, XRD ยอดเล็กน้อยขยับมุมต่ำเมื่อเทียบกับ 0.80BNT-0.20BKT รูปแบบ การแสดงการพับในในพารามิเตอร์ตาข่าย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบที่ได้รับจาก XRD (1? x) BNT-xBKT เซรามิก (0.12 rxr 0.30) กับการฉายรังสี Cu-Kαจะแสดงในรูป 1. รูป รูปแบบที่ 1 แสดง XRD กับ2θตั้งแต่ 20-701 Eachof เซรามิกส์แสดงขั้นตอนการ perovskite เดียวและเฟสรองใด ๆ wasno tobserved.In กรณีของกลุ่มตัวอย่างที่มี x 40.12 ยอด XRD เล็กน้อยขยับไปมุมที่ต่ำกว่าเมื่อเทียบกับ 0.80BNT- 0.20BKT รูปแบบที่แสดงให้เห็นในรอยพับในพารามิเตอร์ของตาข่าย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่วิเคราะห์ได้จาก ( 1 ) รูปแบบ xbkt เซรามิก BNT ) ( 0.12 rxr 0.30 ) กับ cu-k αรังสีแสดงในรูปที่ 1 รูปที่ 1 แสดงวิเคราะห์รูปแบบ 2 θตั้งแต่ 20 – 701 . ของเซรามิกมีเฟสเพอรอฟสไกด์เดียวและระยะที่สอง tobserved กลับคืนมาดังเดิม ในกรณีของตัวอย่างกับ x 40.12 , XRD พีคเปลี่ยนมุมเล็กน้อยกว่าเมื่อเทียบกับ 0.80bnt - 0.20bkt รูปแบบที่ระบุในรอยพับในแลตทิซพารามิเตอร์