Process variations and thermal fluc

Process variations and thermal fluctuations significantly affect the write reliability of spin-transfer torque random access memory (STT-RAM).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กระบวนการเปลี่ยนแปลงและความผันผวนของความร้อนอย่างมีนัยสำคัญส่งผลกระทบต่อความน่าเชื่อถือเขียนของโอนย้ายหมุนบิดหน่วยความจำเข้าถึงโดยสุ่ม (STT RAM) .

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบกระบวนการและความผันผวนของความร้อนอย่างมีนัยสำคัญส่งผลกระทบต่อความน่าเชื่อถือในการเขียนของแรงบิดหมุนถ่ายโอนหน่วยความจำเข้าถึงโดยสุ่ม (STT-RAM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กระบวนการการเปลี่ยนแปลงและผันผวนความร้อนมีผลอย่างมากต่อความน่าเชื่อถือของหน่วยความจำเข้าถึงโดยสุ่มเขียนถ่ายทอดแรงบิดหมุน (
stt-ram )