Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) of the PBAT composites is performed to be able to relate the materials properties to their structure.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ของวัสดุผสม PBAT การสแกนจะดำเนินการเพื่อให้สามารถเกี่ยวข้องคุณสมบัติวัสดุกับโครงสร้าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ของคอมโพสิต PBAT จะดำเนินการเพื่อให้สามารถที่จะเกี่ยวข้องกับคุณสมบัติของวัสดุโครงสร้างของพวกเขา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ของ pbat คอมโพสิตาสามารถสัมพันธ์กับสมบัติของวัสดุโครงสร้างของพวกเขา