Thisdevice, commonly used in testin

This
device, commonly used in testing at high temperatures, is described in detail in
Section 1.7.1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นี้อธิบายไว้ในรายละเอียดของอุปกรณ์ ใช้ในการทดสอบที่อุณหภูมิสูงส่วน 1.7.1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นี้
อุปกรณ์ที่ใช้กันทั่วไปในการทดสอบที่อุณหภูมิสูงจะอธิบายในรายละเอียดใน
มาตรา 1.7.1

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อุปกรณ์นี้
, มักใช้ในการทดสอบที่อุณหภูมิสูง จะอธิบายในรายละเอียดในส่วน 1.7.1
.