X-ray diffraction analysisX-ray dif

X-ray diffraction analysis

X-ray diffraction (XRD) analysis using nickel-filtered Cu Kα radiation
(λ = 0.154056 nm) was performed on Rigaku D/Max-2550PC at 40 kV
and 200 mA. The scanned angle (2θ) was limited between 5° and 75°
with step size 0.01°.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ใช้กรองนิกเกิล Cu Kα รังสี(Λ = 0.154056 nm) ดำเนินการใน Rigaku D/Max-2550PC ที่ 40 kVและ 200 mA มุมมองสแกน (2θ) ถูกจำกัดระหว่าง 75° และ 5°มีขั้นตอนขนาด 0.01°

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์เลนส์ (XRD) การวิเคราะห์โดยใช้นิกเกิลกรอง Cu Kαรังสี(λ = 0.154056 นาโนเมตร) คือการดำเนินการเกี่ยวกับ Rigaku D / Max-2550PC ที่ 40 kV และ 200 มิลลิแอมป์ มุมสแกน (2θ) ถูก จำกัด ระหว่างวันที่ 5 องศาและ 75 องศามีขนาด 0.01 °ขั้นตอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์วิเคราะห์โดยใช้นิกเกิลทองแดง K αกรองรังสี( λ = 0.154056 nm ) มีการ rigaku D / max-2550pc 40 กิโลโวลต์และมา 200 สแกนมุม ( 2 θ ) ถูก จำกัด โดยระหว่าง 5 และ 75 องศากับขนาดขั้นตอนที่ 0.01 องศา .