Microstructure of upper surface and

Microstructure of upper surface and cryo-fractured crosssection
of the film samples was visualised using a scanning electron
microscope (SEM) (JEOL JSM-5800 LV, Tokyo, Japan) at an accelerating
voltage of 10 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคของพื้นผิวด้านบนและ crosssection
ฝั่ง-ร้าวของตัวอย่างภาพยนตร์เรื่องนี้ได้รับการมองเห็นการใช้อิเล็กตรอนแบบส่องกราดกล้องจุลทรรศน์
(SEM) (JEOL JSM-5800 LV, กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น)
ที่เร่งแรงดันไฟฟ้า10 กิโลโวลต์ของ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างของผิวบน และ แช่แข็ง หักครอ ซคชั่น
ของภาพยนตร์ตัวอย่างคือมองเห็นได้โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
( ญี่ปุ่นจอล jsm-5800 LV , โตเกียว ) ที่เร่ง
แรงดัน 10 กิโลโวลต์