The XRD pattern of chitosan in this

The XRD pattern of chitosan in this study displayed two sharp diffraction peaks at 2θ = 10° and 20°,revealing the high crystallinity of chitosan. This result is consistent with the result of a number of previous studies

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบ XRD ของไคโตซานในการศึกษานี้แสดงการเลี้ยวเบนคมสองยอดที่ 2θ = 10 องศาและ 20 องศา เปิดเผย crystallinity สูงของไคโตซาน ผลลัพธ์นี้จะสอดคล้องกับผลของการศึกษาก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ของไคโตซานในการศึกษานี้แสดงสองยอดเลนส์คมที่2θ = 10 °และ 20 °เผยให้เห็นความเป็นผลึกสูงของไคโตซาน ผลที่ได้นี้มีความสอดคล้องกับผลการจากการศึกษาก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาเฟสของไคโตซานในรูปแบบการศึกษานี้แสดงสองคม โดยยอดที่ 2 θ = 10 องศา 20 องศา เผยให้เห็นความเป็นผลึกสูงของไคโตซาน ผลที่ได้นี้สอดคล้องกับผลการศึกษาก่อนหน้านี้ของจำนวน