II. EXPERIMENTSDuring product quali

II. EXPERIMENTS
During product qualification and yield improvement stages, devices
were reported with memory failures. Two failing units were used for
analysis. Bitmapping helped to narrow the failing locations down to the
failing bits of interest on each unit. Both these units came from different
phases of the product life cycle ± one from the initial product
qualification phase and the other from the yield improvement phase.
With the bit locations obtained from bitmapping, PFA using parallel

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ครั้งที่สอง การทดลอง
ในช่วงคุณสมบัติของผลิตภัณฑ์และการปรับปรุงอัตราผลตอบแทนขั้นตอนอุปกรณ์
ที่ได้รับรายงานความล้มเหลวของหน่วยความจำด้วย สองหน่วยความล้มเหลวที่ถูกนำมาใช้สำหรับ
การวิเคราะห์ Bitmapping ช่วยให้แคบสถานที่ล้มเหลวลงไป
บิตความล้มเหลวที่น่าสนใจในแต่ละหน่วย ทั้งสองหน่วยงานเหล่านี้มาจากการที่แตกต่างกัน
ขั้นตอนของวงจรชีวิตผลิตภัณฑ์±หนึ่งจากสินค้าเริ่มต้น
เฟสวุฒิการศึกษาและอื่น ๆ จากขั้นตอนการปรับปรุงผลผลิต.
ที่มีสถานที่บิตที่ได้รับจาก bitmapping, PFA ใช้คู่ขนาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2 . การทดลองในคุณสมบัติของผลิตภัณฑ์และผลผลิตขั้นตอนการปรับปรุงอุปกรณ์มีรายงานกับความล้มเหลวของหน่วยความจำ สองหน่วยที่ใช้คือความล้มเหลวการวิเคราะห์ bitmapping ช่วยให้แคบลงเพื่อล้มเหลวสถานที่ความล้มเหลวในบิตของดอกเบี้ยในแต่ละหน่วย หน่วยเหล่านี้มาจากต่างขั้นตอนของวัฏจักรชีวิตผลิตภัณฑ์±หนึ่งจากผลิตภัณฑ์เริ่มต้นคุณสมบัติและขั้นตอนอื่น ๆจากการเพิ่มผลผลิตระยะกับบิตสถานที่ที่ได้จาก bitmapping ๙ขนาน , ใช้