electron microscope operating at 75

electron microscope operating at 75 kV. The width of chro-
matin fibers was measured from the electron micrographs
negatives using catalase crystal with the lattice spacing
8.75 nm as the standard. For SEM, samples were attached
to coverslips previously coated with 0.1% poly-l lysine.
Samples were fixed and dehydrated as described above,
then critical-point dried and gold coated. Preparations were
examined in a LEO 1450 VP scanning electron microscope.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน 75 เควี ความกว้างของ chro-เส้นใย matin ซึ่งวัดได้จาก micrographs อิเล็กตรอนฟิล์มที่ใช้คริสตัลคา ด้วยระยะห่างตาข่าย8.75 nm เป็นมาตรฐาน แนบตัวอย่างสำหรับ SEMการ coverslips ก่อนหน้านี้เคลือบ ด้วยไลซีนโพลี l 0.1%ตัวอย่างถาวร และอบแห้งตามที่อธิบายไว้ข้างต้นแล้ว จุดสำคัญแห้ง และเคลือบทอง มีการเตรียมการตรวจในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดลีโอ 1450 VP

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนปฏิบัติการที่ 75 กิโลโวลต์ ความกว้างของ chro-
เส้นใย Matin วัดจากไมโครอิเล็กตรอน
เชิงลบโดยใช้ catalase คริสตัลที่มีระยะห่างตาข่าย
8.75 นาโนเมตรเป็นมาตรฐาน สำหรับ SEM, ตัวอย่างที่แนบมา
เพื่อ coverslips เคลือบด้วยก่อนหน้านี้ 0.1% Poly-L ไลซีน.
ตัวอย่างได้รับการแก้ไขและแห้งตามที่อธิบายไว้ข้างต้น
แล้วที่สำคัญจุดแห้งและเคลือบทอง การเตรียมการถูก
ตรวจสอบในราศีสิงห์ 1450 VP กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน