1.Found defect nick & open random i

1.Found defect nick & open random informed K.Ton (Sr.sup.PD) this defects caused using film size larger than boards ,K.Ton agree and will improve.
2.K.piroj (Mgr.PD) inform inner process be can test on end of April.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

1.พบข้อบกพร่องนิค & เปิดสุ่มทราบ K.Ton (Sr.sup.PD) นี้ข้อบกพร่องเกิดจากการใช้ฟิล์มขนาดใหญ่กว่ากระดาน K.Ton ยอมรับ และจะปรับปรุง 2.K.piroj (Mgr.PD) แจ้งให้ทราบกระบวนการภายในที่สามารถทดสอบในตอนท้ายของเดือนเมษายน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

1.Found ข้อบกพร่องกรงขังและเปิดสุ่มแจ้ง K.Ton (Sr.sup.PD) ข้อบกพร่องนี้เกิดจากการใช้ฟิล์มขนาดใหญ่กว่าบอร์ด K.Ton เห็นด้วยและจะปรับปรุง.
2.K.piroj (Mgr.PD) แจ้งกระบวนการภายใน จะสามารถทดสอบในปลายเดือนเมษายน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

1.found ข้อบกพร่องนิค&เปิดสุ่มแจ้ง K . ตัน ( sr.sup PD ) ข้อบกพร่องที่เกิดจากการใช้ฟิล์มขนาด ใหญ่ กว่า บอร์ด k.ton ยอมรับและจะปรับปรุง .
2.k.piroj ( Mgr . PD ) แจ้งกระบวนการภายในจะสามารถทดสอบในสิ้นเดือนเมษายน