The GC/AuNPs/E was characterized us

The GC/AuNPs/E was characterized using AFM and SEM analyses.

The AFM topographic image of GC/AuNPs/E (Fig. 1a) shows the homogeneous distribution of AuNPs, which had a cross section(Fig. 1b) with an average size of 75 nm and a roughness of 24.7 nm.

The SEM analysis indicated a homogeneous distribution of AuNPs with an average size of 75.82 ± 20 nm, which is similar to the results obtained using AFM and EDX confirming the presence of gold on the electrode surface (Fig. 1c and d).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

GC / AuNPs / E ก็มีลักษณะการใช้ AFM และวิเคราะห์ SEM. ภาพภูมิประเทศ AFM ของ GC / AuNPs / E (รูป. 1a) แสดงให้เห็นการกระจายเป็นเนื้อเดียวกันของ AuNPs ซึ่งมีภาคตัดขวาง (รูป. 1 ข) ที่มีขนาดเฉลี่ย 75 นาโนเมตรและความขรุขระของ 24.7 นาโนเมตร. การวิเคราะห์ SEM แสดงให้เห็นการกระจายเป็นเนื้อเดียวกันของ AuNPs ที่มีขนาดเฉลี่ยของ 75.82 ± 20 นาโนเมตรซึ่งมีความคล้ายคลึงกับผลที่ได้รับใช้ AFM และ EDX ยืนยันการปรากฏตัวของทองบนพื้นผิวอิเล็กโทรด ( รูปที่. 1 c และ d)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

GC / aunps / E มีลักษณะใช้ AFM และวิเคราะห์ SEM

AFM ภูมิประเทศภาพของ GC / aunps / E ( รูปที่ 1A ) แสดงการกระจายเป็นเนื้อเดียวกันของ aunps ซึ่งมีรูปตัด ( รูปที่ 1A ) มีขนาดเฉลี่ย 75 nm และความขรุขระของ 24.7 nm .

การวิเคราะห์ SEM พบกระจายเป็นเนื้อเดียวกันของ aunps ขนาดเฉลี่ยของ 75.82 ± 20 นาโนเมตรซึ่งคล้ายกับผลที่ได้ใช้ และการวัด AFM ยืนยันการแสดงตนของทองบนพื้นผิวขั้วไฟฟ้า ( ภาพ c และ d )