X-ray powder diffraction (XRD) patt

X-ray powder diffraction (XRD) pattern was carried out on a Rigaku Dmax-γA X-ray diffractometer with CuKα radiation (λ=1.54178 Å). The morphology of nanocrystalline ZrB2 was observed from transmission electron microscopy (TEM) images taken with a Hitachi H-800 transmission electron microscope. X-ray photoelectron spectra (XPS) were recorded on a VGESCALAB MKII X-ray photoelectron spectrometer, using non-monochromatized MgKα X-rays as the excitation source. The UV–vis absorption spectrum was recorded on a Shimadzu UV-2410PC UV–vis spectrophotometer. Thermogravimetric analysis (TGA) was collected with a Shimadzu-50 thermoanalyzer apparatus under air.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลวดลายการเลี้ยวเบน (XRD) ผงเอกซเรย์ถูกดำเนินการบน diffractometer เอ็กซ์เรย์ Rigaku Dmax-γA กับ CuKα รังสี (λ = 1.54178 Å) สัณฐานวิทยาของ nanocrystalline ZrB2 ถูกตรวจสอบจากภาพ microscopy อิเล็กตรอน (ยการ) ส่งถ่าย ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่ง H-800 ของฮิตาชิ แรมสเป็คตรา photoelectron เอกซเรย์ (XPS) ถูกบันทึกไว้ในสเปกโตรมิเตอร์ photoelectron VGESCALAB MKII เอกซเรย์ ใช้ monochromatized ไม่ใช่ MgKα X-rays เป็นต้นในการกระตุ้น สเปกตรัมดูดซึม UV – vis ถูกบันทึกไว้ในเครื่องทดสอบกรดด่าง Shimadzu UV 2410PC UV – vis วิเคราะห์ Thermogravimetric (TGA) รวบรวมไว้กับอุปกรณ์ thermoanalyzer Shimadzu 50 ภายใต้อากาศ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผง X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) รูปแบบที่ได้รับการดำเนินการใน Rigaku Dmax-γAมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ด้วยการฉายรังสีCuKα (λ = 1.54178 A) สัณฐานวิทยาของ nanocrystalline ZrB2 ถูกสังเกตได้จากการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ภาพที่ถ่ายด้วยการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน Hitachi H-800 X-ray สเปกตรัมโฟโตอิเล็กตรอน (XPS) ได้รับการบันทึกไว้ใน VGESCALAB MKII X-ray สเปกโตรมิเตอร์โฟโตอิเล็กตรอนใช้ที่ไม่ monochromatized MgKαรังสีเอกซ์เป็นแหล่งที่มากระตุ้น สเปกตรัมการดูดซึมรังสี UV-Vis ถูกบันทึกลงบน Spectrophotometer UV-Vis Shimadzu UV-2410PC การวิเคราะห์ทางความร้อน (TGA) ถูกเก็บรวบรวมด้วย Shimadzu-50 อุปกรณ์ thermoanalyzer ภายใต้อากาศ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD ) ผงรูปแบบดำเนินการใน rigaku ดีแมคซ์ - γเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับ cuk αรังสี ( λ = 1.54178 Å ) สัณฐานวิทยาของ zrb2 nanocrystalline สังเกตจากการส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) ภาพที่ถ่ายกับ ฮิตาชิ h-800 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน . เครื่อง X-ray photoelectron Spectra ( XPS ) ได้ถูกบันทึกไว้ใน vgescalab X-ray photoelectron อินฟราเรดสเปกโตรมิเตอร์ใช้ไม่ monochromatized MGK αรังสีเอกซ์เป็น 01 UV Vis การดูดซึมสเปกตรัมและถูกบันทึกไว้ใน Shimadzu uv-2410pc – UV VIS วัสดุ การวิเคราะห์เทอร์โมกราวิเมตริก ( TGA ) เก็บข้อมูลด้วย shimadzu-50 thermoanalyzer อุปกรณ์ภายใต้อากาศ