2θ position of the (002) peak, grai

2θ position of the (002) peak, grain size, I002 intensity ratio, and surface roughness of ZnO:B films deposited with various (100 − x)ZnO–xB2O3 targets. The grain size is calculated from the
broadening of the XRD peaks using the Scherrer equation. The I002 intensity ratio is defined as the I002 intensity divided by the sum of intensity of all diffraction peaks (I100 + I002+ I101+ I004).
The surface roughness is identified by AFM

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตำแหน่ง 2θ peak (002) ขนาดเม็ด อัตราส่วนความเข้ม I002 และพื้นผิวที่ขรุขระของฟิล์ม ZnO:B ที่ฝากกับ (100 − x) เป้าหมาย ZnO – xB2O3 ขนาดเม็ดจะถูกคำนวณจากการขยายของยอด XRD ใช้สมการ Scherrer อัตราส่วนความเข้ม I002 ถูกกำหนดเป็นความเข้ม I002 หาร ด้วยผลรวมของความเข้มของการเลี้ยวเบนของแสงยอด (I100 + I002 + I101 + I004)พื้นผิวที่ขรุขระจะถูกระบุ ด้วย AFM

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตำแหน่ง2θของ (002) สูงสุดขนาดเม็ดอัตราส่วนความเข้ม I002 และพื้นผิวที่ขรุขระของ ZnO: B ฝากไว้กับภาพยนตร์ต่างๆ (100 - x) เป้าหมาย ZnO-xB2O3 ขนาดเม็ดคำนวณจาก
การขยายยอด XRD โดยใช้สมการ Scherrer อัตราส่วนความเข้ม I002 ถูกกำหนดให้เป็นความเข้ม I002 หารด้วยผลรวมของความรุนแรงของทุกยอดการเลี้ยวเบน (I100 I002 + + + I101 I004) ได้.
พื้นผิวที่ขรุขระจะถูกระบุโดย AFM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2 θตำแหน่งของ ( 002 ) ยอด ขนาดเกรน i002 อัตราส่วนความเข้มของแสง และความขรุขระของพื้นผิวของฟิล์ม ZnO : b ฝากไว้กับต่างๆ ( 100 − x ) P ) xb2o3 เป้าหมาย ขนาดเกรนคำนวณจากการขยายของ XRD พีคใช้เชเรอร์สมการ การ i002 อัตราส่วนความเข้มของแสง หมายถึง ความเข้ม i002 หารด้วยผลรวมของความเข้มของเลนส์ทั้งหมด ( i100 ยอด + + + i002 i101 i004 )ความหยาบผิวจะถูกระบุโดย AFM