3.2. Grain size, deposition rate an

3.2. Grain size, deposition rate and surface roughness
The values of full width at half maximum (FWHM) of the most
dominating XRD peaks (1 1 1) and (2 0 0)were used to calculate the
grain size, D111 and D200. The average values of the grain size (D)
and thickness of coatings deposited on stainless steel and Si are
summarized in Table 2. It is observed that the crystallite size is
reduced or grain refinement occurs with increase Si content in the
coatings. The XRD analysis of the CrSiN coatings indicated that the
coating with a preferred (1 1 1) orientation decreases. Parallely, a
peak broadening occurs with an increase in the Si content, leading
to the reduction in grain size. The grain size of the CrSiN coating was
38.8nm (Si: 2.67 at.%) which has decreased to 10.5nm for the coating
with 18.65 at.% Si. The reduction of the average grain size Dave

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.2. เมล็ดขนาด อัตราสะสม และความหยาบผิว
ค่าของความกว้างเต็มที่เกินครึ่ง (FWHM) มากที่สุด
อำนาจเหนือยอด XRD (1 1 1) และ (2 0 0) ใช้ในการคำนวณ
เมล็ดขนาด D111 และ D200 ค่าเฉลี่ยของขนาดเม็ด (D)
และความหนาของเคลือบฝากบนสแตนเลสและซี
สรุปในตารางที่ 2 ตรวจสอบว่า เป็น crystallite ขนาด
ลดลง หรือเม็ดรีไฟน์เมนท์เกิด มีเพิ่มขึ้นในเนื้อหา
เคลือบ การวิเคราะห์ XRD ของเคลือบ CrSiN ระบุที่
เคลือบ ด้วยการ (1 1 1) ลดลงแนว Parallely การ
broadening สูงสุดเกิดขึ้น ด้วยการเพิ่มเนื้อหาศรี นำ
เพื่อลดขนาดของเมล็ดข้าว มีขนาดเมล็ดเคลือบ CrSiN
38.8nm (ศรี: 2.67 at.%) ซึ่งลด 105nm สำหรับเคลือบ
กับ 18.65 at.% ศรี การลดลงของเมล็ดเฉลี่ยขนาดเดฟ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.2 ขนาดเม็ดอัตราการปลูกและพื้นผิวที่ขรุขระ
ค่าของความกว้างเต็มรูปแบบที่สูงสุดครึ่ง (FWHM) ในที่สุด
ยอด XRD เหนือ (1 1 1) และ (2 0 0) ถูกนำมาใช้ในการคำนวณ
ขนาดของเมล็ดข้าว D111 และ D200 ค่าเฉลี่ยของขนาดเม็ด (D)
และความหนาของการเคลือบวางอยู่บนสแตนเลสและศรี
สรุปในตารางที่ 2 มันเป็นที่สังเกตว่าขนาดของผลึกจะ
ลดลงหรือปรับสภาพเกรนเกิดขึ้นกับการเพิ่มเนื้อหาศรี
เคลือบ การวิเคราะห์ XRD ของสารเคลือบ CrSiN ชี้ให้เห็นว่า
มีการเคลือบที่ต้องการ (1 1 1) การปรับลดลง ควบคู่,
ขยายสูงสุดเกิดขึ้นกับการเพิ่มขึ้นของเนื้อหาศรีนำ
ไปสู่การลดขนาดของเมล็ดข้าว ขนาดของเมล็ดข้าวที่เคลือบ CrSiN เป็น
38.8nm (ศรี: 2.67 ที่%). ซึ่งได้ลดลง 10.5NM สำหรับเคลือบ
กับ 18.65% ที่ศรี. การลดขนาดของเมล็ดข้าวเฉลี่ยเดฟ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.2 . ขนาดเกรน สะสมคะแนนและ
พื้นผิวขรุขระค่าความกว้างเต็มครึ่ง ( FWHM ) มากที่สุด ของที่สุดยอด
dominating XRD ( 1 , 1 ) และ ( 2 ) 0 0 ) ถูกใช้เพื่อคำนวณ
เม็ดขนาด d111 และ d200 . ค่าเฉลี่ยของขนาดเกรน ( D )
และความหนาเคลือบเงินสแตนเลสและซื่อ
สรุปได้ในตารางที่ 2 พบว่าผลึกขนาด
การลดหรือการเพิ่มปริมาณเมล็ดข้าวเกิดขึ้นกับจังหวัดใน
เคลือบ การศึกษาเฟสการวิเคราะห์ของเคลือบ พบว่า crsin
เคลือบกับที่ต้องการ ( 1 , 1 ) การลดลง เครื่อง ,
ยอดขยายเกิดขึ้นกับการเพิ่มขึ้นในจังหวัด เนื้อหาที่นํา
เพื่อการลดขนาดเกรน ขนาดเกรนของ crsin เคลือบถูก
38.8nm ( SI : 2.67 ที่ % ) ซึ่งลดลงถึง 105nm สำหรับเคลือบ
กับ 18.65 ที่ % ครับ การลดขนาดเกรนโดยเฉลี่ยเดฟ