Scanning electron microscope, SEM f

Scanning electron microscope, SEM for shot, is invented in 1965; it has high amplification factor, big field of
view and long depth of field. SEM can be used to observe all kinds of un-even surfaces directly and save the results
as images, which make it a widely used instrument for science research.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด SEM ในการถ่ายภาพ คิดค้นในปี 1965 มีตัวแปรยกกำลังสูง สนามใหญ่ของดู และยาวลึก SEM ใช้สังเกตทุกพื้นผิวแม้ไม่โดยตรง และบันทึกผลเป็นรูปภาพ ซึ่งทำให้เครื่องมือที่ใช้สำหรับการวิจัยทางวิทยาศาสตร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM สำหรับการยิงถูกคิดค้นขึ้นในปี 1965; มันมีปัจจัยการขยายสูงฟิลด์ใหญ่ของ
มุมมองและความลึกยาวของสนาม SEM สามารถนำมาใช้ในการสังเกตทุกชนิดของสหประชาชาติแม้พื้นผิวโดยตรงและบันทึกผล
เป็นภาพที่ทำให้มันเป็นเครื่องมือที่ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการวิจัยด้านวิทยาศาสตร์