Transmission electron microscopy (T

Transmission electron microscopy (TEM) analysis was carried out at 100 kV using the model
JEM-100CX II of JEOL, Japan. Raman spectroscopy was recorded on Raman spectrometer (Jobin Yovn Horiba LABRAM-HR) with a He-Ne laser (frequency 632.81 nm) source.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งชาวดัตช์ (TEM) วิเคราะห์ดำเนินการ 100 kV ที่ใช้รูปแบบII JEM 100CX ของ JEOL ญี่ปุ่น รามันสเปกโทรสโกบันทึกบนรามันสเปกโตรมิเตอร์ (เอมิเรตส์แกรนด์โฮเต็ลอพาร์ตเมนต์ Yovn Horiba LABRAM-HR) เป็นแหล่งกำเนิดเลเซอร์ (ความถี่ 632.81 nm) He Ne

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) การวิเคราะห์ได้ดำเนินการที่ 100 กิโลโวลต์โดยใช้รูปแบบ
JEM-100CX สองของ JEOL ญี่ปุ่น สเปกรามันถูกบันทึกลงบนรามันสเปกโตรมิเตอร์ (Jobin Yovn Horiba Labram-HR) ด้วยเลเซอร์ He-Ne (ความถี่ 632.81 นาโนเมตร) แหล่งที่มา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( TEM ) วิเคราะห์โดยใช้แบบจำลองที่ 100 กิโลโวลต์jem-100cx II ของจอล ประเทศญี่ปุ่น รามานสเปกโทรสโกปี ถูกบันทึกใน Raman Spectrometer ( โจบิน yovn horiba labram-hr ) กับเขานี่ เลเซอร์ ( ความถี่ 632.81 nm ) แหล่งที่มา