For ion current measurements, flat

For ion current measurements, flat probes are commonly used. This is because
by using this measurement setup, the collecting area is essentially independent of the
sheath thickness [41]. A schematic of a flat probe is shown in Fig. 9, where a metal
disk, in this case of 2 cm in diameter, is equipped with a guard ring that is kept at the

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับการประเมินปัจจุบันไอออน คลิปปากตะเข้แบนใช้งาน ทั้งนี้เนื่องจาก โดยใช้การตั้งค่านี้วัด บริเวณที่เก็บรวบรวมเป็นหลักขึ้นอยู่กับการ sheath หนา [41] มันของโพรบแบนจะปรากฏใน Fig. 9 เป็นโลหะ ดิสก์ ในกรณีนี้ของเส้นผ่าศูนย์กลาง 2 ซม. พร้อมแหวนยามที่เก็บไว้ใน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับการวัดปัจจุบันไอออน probes แบนเป็นที่นิยมใช้ เพราะนี่คือ
การติดตั้งโดยใช้การวัดนี้พื้นที่การจัดเก็บภาษีเป็นหลักเป็นอิสระจาก
ความหนาของเปลือก [41] แผนผังของวัดแบนแสดงในรูป 9 ที่โลหะ
ดิสก์ในกรณีนี้ 2 ซม. ในเส้นผ่าศูนย์กลางเป็นอุปกรณ์ที่มีแหวนยามที่ถูกเก็บไว้ที่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับการวัดกระแสไอออน และแบนที่ใช้กันทั่วไป นี้เป็นเพราะการตั้งค่า
วัดนี้ , พื้นที่จัดเก็บเป็นหลักความอิสระของ
ปลอกหนา [ 41 ] วงจรของเครื่องตรวจจับแบนจะแสดงในรูปที่ 9 ซึ่งจานโลหะ
ในกรณีนี้ 2 ซม. ในเส้นผ่าศูนย์กลาง พร้อมกับยามแหวนนั้นอยู่ที่