the device current is blocked by th

the device current is blocked by the
weakly reverse biased Al/n-Si junction formed due to aging

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ปัจจุบันอุปกรณ์ที่ถูกบล็อกโดยการกลับอ่อนลำเอียงแยก Al/n-ซีที่เกิดขึ้นเนื่องจากริ้วรอย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ปัจจุบันอุปกรณ์ที่ถูกปิดกั้นโดย
อ่อนย้อนกลับลำเอียงแยกอัล / N-Si เกิดขึ้นเนื่องจากการเกิดริ้วรอย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อุปกรณ์ปัจจุบันถูกปิดกั้นโดยกะปวกกะเปียกลําเอียงกลับอัล / n-si ชุมทางเกิดขึ้นเนื่องจากอายุ