Fig. 2 presents XRD patterns of pro

Fig. 2 presents XRD patterns of products of the 1/8 mixture after 6 h at 1100 °C in a NaCl-based salt containing 0, 1.25, 2.5 or 5 wt% NaF. Almost no SiC was detected in the absence of NaF. However, when 1.25 wt% NaF was used in the salt, SiC peaks started to appear and Si peaks decreased concurrently. On further increasing the NaF content to 2.5 wt%, Si disappeared and only SiC along with unreacted carbon was present. In addition to the primary SiC peaks, two tiny shoulder peaks at 2θ ≈33.78° and 38.01° (marked as black stars) were seen, in particular, in the case of using 1.25 wt% NaF. They are believed to arise from the stacking faults commonly existing in β-SiC. 14 and 15 Further increasing the NaF content to 5 wt% did not result in any further phase changes, but the two small shoulder peaks almost disappeared. The XRD pattern in this case was almost identical to that when using 20 wt% NaF (Fig. 1), indicating that 2.5–5 wt% NaF in the binary salt was sufficient for the MSS process of SiC.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูป 2 แสดง XRD รูปแบบของผลิตภัณฑ์ส่วนผสม 1/8 หลังจาก 6 ชม. 1100 ° c ใน NaCl ใช้เกลือที่ประกอบด้วย 0, 1.25, 2.5 หรือ 5 wt % NaF เกือบ SiC ไม่ตรวจพบของ NaF อย่างไรก็ตาม เมื่อใช้ 1.25 wt % NaF ในเกลือ SiC ยอดเริ่มปรากฏ และศรียอดลดลงพร้อมกัน ในการ เพิ่มเนื้อหา 2.5 wt % NaF ศรีหายไป และ SiC เท่ากับคาร์บอน unreacted ปัจจุบัน นอกจากยอดหลัก SiC สองไหล่เล็ก ๆ ยอดที่ 2θ ≈33.78 °° 38.01 (ทำเครื่องหมายเป็นดาวดำ) เห็น โดยเฉพาะอย่างยิ่ง ในกรณีที่ใช้ 1.25 wt % NaF เชื่อว่าจะเกิดขึ้นจากข้อบกพร่องซ้อนทั่วไปที่มีอยู่ในฉบับที่β 14 และ 15 การเพิ่มเนื้อหา 5 wt % NaF ผลไม่เปลี่ยนแปลงใด ๆ เพิ่มเติม แต่ยอดไหล่เล็กสองหายไปเกือบ รูป XRD ในกรณีนี้ก็เหมือนกับว่า เมื่อใช้ 20 wt % NaF (รูปที่ 1), ระบุว่า 2.5 – 5 wt % NaF เกลือไบนารีคือเพียงพอสำหรับกระบวนการ MSS ของ SiC

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 2 นำเสนอรูปแบบ XRD ของผลิตภัณฑ์ของ 1/8 ส่วนผสมหลัง 6 ชั่วโมงที่ 1100 ° C ในเกลือโซเดียมคลอไรด์ตามที่มี 0, 1.25, 2.5 หรือ 5% โดยน้ำหนัก NaF เกือบจะไม่มี SiC ถูกตรวจพบในตัวตนของนาฟ แต่เมื่อ 1.25% โดยน้ำหนัก NaF ถูกใช้ในเกลือยอด SiC เริ่มปรากฏให้เห็นและยอดศรีลดลงพร้อมกัน บนต่อการเพิ่มเนื้อหา NaF ถึง 2.5% โดยน้ำหนักศรีหายไปและมีเพียง SiC พร้อมกับคาร์บอน unreacted เป็นปัจจุบัน นอกจากนี้ยังมียอด SiC หลักสองยอดไหล่เล็ก ๆ ที่2θ≈33.78°และ 38.01 ° (ทำเครื่องหมายเป็นดาวสีดำ) ได้เห็นโดยเฉพาะอย่างยิ่งในกรณีของการใช้ 1.25% โดยน้ำหนัก NaF พวกเขาเชื่อว่าจะเกิดขึ้นจากความผิดพลาดซ้อนที่มีอยู่ทั่วไปในβ-SiC 14 และ 15 ต่อการเพิ่มเนื้อหา NaF ถึง 5% โดยน้ำหนักไม่ได้ผลในการเปลี่ยนแปลงขั้นตอนการเพิ่มเติมใด ๆ แต่ทั้งสองยอดไหล่เล็ก ๆ หายไปเกือบหมด รูปแบบ XRD ในกรณีนี้ก็เกือบจะเหมือนกับว่าเมื่อใช้ 20% โดยน้ำหนัก NaF (รูปที่ 1). แสดงให้เห็นว่า 2.5-5% โดยน้ำหนัก NaF ในเกลือไบนารีก็เพียงพอสำหรับกระบวนการ MSS ของ SiC

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 แสดงวิเคราะห์รูปแบบของผลิตภัณฑ์ของ 1 / 8 ส่วนผสมหลังจาก 6 H ที่ 1100 ° C ในเกลือโซเดียมคลอไรด์ที่ความเข้มข้น 0 , 1.25 ตาม 2.5 หรือ 5 เปอร์เซ็นต์ กลุ่ม . เกือบจะไม่มี SIC ที่ตรวจพบในการขาดของกลุ่ม . อย่างไรก็ตาม เมื่อกลุ่ม 1.25 เปอร์เซ็นต์ ใช้เกลือเพียงยอดเริ่มปรากฏและยอดศรี ลดลง พร้อม ต่อไปเพิ่มกลุ่มเนื้อหา 2.5 เปอร์เซ็นต์ , ศรีหายไปและ SIC พร้อมกับเข้าสู่คาร์บอนอยู่ นอกจากยอดเขาหลัก Sic , สองเล็กไหล่ยอดที่ 2 θ≈ 48.94 33.78 และบริเวณโดย 38.01 ( เครื่องหมายดาวเป็นสีดำ ) ได้เห็น โดยเฉพาะในกรณีของการใช้ 1.25 เปอร์เซ็นต์ กลุ่ม . พวกเขาจะเชื่อว่าเกิดขึ้นจากความผิดปกติที่มีอยู่ในการซ้อนบีตา - ซิลิกอน . 14 และ 15 เพิ่มเติมเพิ่มกลุ่มเนื้อหา 5 เปอร์เซ็นต์ ไม่พบการเปลี่ยนแปลงใด ๆ ขั้นตอนต่อไป แต่ไหล่เล็กสองยอดหายไปเกือบ การศึกษาเฟสรูปแบบในกรณีนี้คือเกือบจะเหมือนกันกับที่เมื่อใช้ 20 เปอร์เซ็นต์โดยน้ำหนักกลุ่ม ( รูปที่ 1 ) แสดงว่า 2.5 – 5 เปอร์เซ็นต์โดยน้ำหนักในกลุ่มเกลือไบนารีก็เพียงพอสำหรับกระบวนการจัดซื้อของ SiC