Cryogenic scanning electron microsc

Cryogenic scanning electron microscopy (Cryo-SEM; Philips
XL30 FEG ESSEM) was used to visualise the microstructure of untreated
and heat-treated rice starch in water. One drop of starch
dispersion was frozen to approximately 180 C in liquid nitrogen
slush. Samples were then fractured and etched for 3 min at a
temperature of 90 C inside a preparation chamber. Afterwards,
samples were sputter coated with gold and scanned, during which
the temperature was kept below 160 C by addition of liquid nitrogen
to the system.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อุณหภูมิแกน (Cryo SEM ชาวดัตช์ PhilipsXL30 FEG ESSEM) ถูกใช้เพื่อดูภาพโครงสร้างจุลภาคของบำบัดและแป้งในน้ำฆ่า หนึ่งหยดแป้งกระจายตัวถูกแช่แข็งจะประมาณ 180 C ในไนโตรเจนเหลวสเลอปี้ ตัวอย่างร้าว และแกะสลัก 3 นาทีที่แล้วมีอุณหภูมิ 90 C ภายในห้องเตรียม หลังจากนั้นตัวอย่างถูก sputter เคลือบ ด้วยทอง และ สแกน ซึ่งอุณหภูมิถูกเก็บไว้ด้านล่าง 160 C ของไนโตรเจนเหลวให้เป็นระบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Cryogenic กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Cryo-SEM; Philips
XL30 FEG Essem) ถูกนำมาใช้เพื่อให้มองเห็นจุลภาคของรับการรักษา
แป้งข้าวและได้รับความร้อนในน้ำ หนึ่งหยดแป้ง
กระจายถูกแช่แข็งประมาณ? 180? C ในไนโตรเจนเหลว
โคลน ตัวอย่างที่ถูกหักแล้วและแกะสลักเป็นเวลา 3 นาทีที่
อุณหภูมิ 90 องศาเซลเซียสภายในห้องเตรียม หลังจากนั้น
ตัวอย่างที่ถูกเคลือบด้วยทองคำปะทุและสแกนในระหว่างที่
อุณหภูมิถูกเก็บไว้ด้านล่าง? 160? C โดยการเติมไนโตรเจนเหลว
กับระบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM แช่แข็งแช่แข็ง ; ฟิลิปส์xl30 FEG essem ) เคยเห็นภาพโครงสร้างจุลภาคของดิบข้าว แป้ง และความร้อนในน้ำ หนึ่งหยดของแป้งกระจายเป็นประมาณ 180 องศา แช่แข็งในไนโตรเจนเหลวโคลน . จำนวนแล้วหักและฝังสำหรับ 3 นาทีที่ที่อุณหภูมิ 90 องศาเซลเซียส ภายในการเตรียมห้อง . หลังจากนั้นจำนวนมิดหมีเคลือบด้วยทอง และ สแกน ระหว่างที่อุณหภูมิที่ถูกเก็บไว้ด้านล่าง 160 C โดยเติมไนโตรเจนเหลวให้กับระบบ