and a Si(Li) solid state detector w

and a Si(Li) solid state detector with 155 eV resolution at5.9 keV was employed. At first, count is performed without samples in order to designate how much radiation the samples absorb. Later, samples are irradiated and absorptions per unit thickness are calculated via the expression below:
Here; I_0: Beam intensity measured in the absence of the sample, I_x: Beam intensity passing through the sample of thickness x. This way I_0, I_x, and (I_x/I_0) rates at different energy levels are calculated and permeability rate values are determined.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และเครื่องตรวจจับสถานะของแข็ง Si(Li) กับ at5.9 ความละเอียด 155 eV ถูกจ้าง keV ครั้งแรก จำนวนจะดำเนินการโดยไม่ต้องดูดซับตัวอย่างเพื่อกำหนดปริมาณรังสีในตัวอย่าง ในภายหลัง ตัวอย่างถูกฉายรังสี และ absorptions ต่อความหนาหน่วยจะถูกคำนวณผ่านนิพจน์ด้านล่าง: ที่นี่ I_0: ลำแสงความเข้มข้นที่วัดได้ของตัวอย่าง I_x: ความเข้มของลำแสงผ่านตัวอย่างของความหนา x วิธีคำนวณอัตรา I_0, I_x (I_x/I_0) และในระดับพลังงานต่าง ๆ และค่าอัตราการซึมผ่านนี้จะถูกกำหนด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และศรี ( Li ) เครื่องตรวจจับสถานะของแข็งกับวีความละเอียด at5.9 เคฟ 155 คน ตอนแรกนับจะแสดงโดยตัวอย่างเพื่อที่จะกำหนดเท่าใดรังสีตัวอย่างที่ดูดซับ ต่อมา ตัวอย่างที่ฉายรังสีโมล่าต่อความหนาและหน่วยคํานวณผ่านการแสดงออกที่ด้านล่าง :ที่นี่ i_0 : ลำแสงความเข้มวัดในการขาดงานของตัวอย่าง i_x : ความเข้มแสงที่ผ่านตัวอย่างของวิธีนี้ i_0 i_x หนา X , และ ( i_x / i_0 ) อัตราที่พลังงานระดับที่แตกต่างกันและอัตราการซึมผ่าน คำนวณค่ากำหนด