In the atomic force microscope, a s

In the atomic force microscope, a sharp tip with a radius
typically between 10 and 100 nm is used [26], thus in the present
study, three different values of R are studied, i.e. R = 10 nm, 20 nm
and 40 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมปลายคมชัดด้วยรัศมี
ปกติระหว่าง 10 และ 100 นาโนเมตรถูกนำมาใช้ [26] ดังนั้นในปัจจุบัน
การศึกษาที่แตกต่างกันสามค่าของ r มีการศึกษาคือ r = 10 นาโนเมตร 20 นาโนเมตรและ
40 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม คมชัดคำแนะนำและรัศมี
ปกติระหว่าง 10 และ 100 nm จึงใช้ [26], ในปัจจุบัน
มีสามค่าที่แตกต่างของ R ศึกษา ศึกษา เช่น R = 10 nm, 20 nm
และ 40 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในกล้องจุลทรรศน์มีผลใช้บังคับปรมาณูที่ปลายแหลมพร้อมด้วยรัศมี
ซึ่งจะช่วยโดยทั่วไประหว่าง 10 และ 100 เมตรใช้[ 26 ]ในปัจจุบัน
ซึ่งจะช่วยการศึกษาที่สามค่าที่แตกต่างกันของ R เป็นศึกษาเช่น r = 10 nm , 20 nm และ 40 nm