scanning electron microscopy was pe

scanning electron microscopy was performed using sputter coater, hitachi s-3200 SEM to determine the surface structure of the coated samples.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอนที่ดำเนินการโดยใช้ sputter coater ฮิตาชิ s-3200 SEM เพื่อกำหนดโครงสร้างพื้นผิวของตัวอย่างเคลือบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนได้รับการดำเนินการโดยใช้ Coater ปะทุ, hitachi s-3200 SEM เพื่อตรวจสอบโครงสร้างพื้นผิวของตัวอย่างเคลือบที่