Silica Characterization X-ray Fluor

Silica Characterization X-ray Fluorescence Spectroscopy (XRF) Chemical analysis was determined by using X-ray Fluorescence (XRF HORIBA, MESA 500-WX-ray fluorescence spectrometry with 15/50 keV X-ray tube. Quantitative analysis of silica content with no preparatory work such as calibration using standard samples and the pre-registration of a standard spectrum was performed. X-ray Powder Diffraction (XRD) Phase identification of silica extracted were determined by X-ray powder diffraction Phillips PW 1830/40 was used to determine the samples, using Cu-Kα1 radiation with λ = 1.5406 Å, generator tension 40 kV, generator current 30 mV in the range 5-70° 2θ and at a rate of 0.01°/min.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กำหนดลิมิกเรืองแสงเอ็กซเรย์ของคุณลักษณะ (XRF) การวิเคราะห์ทางเคมี โดยใช้เอ็กซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ (XRF HORIBA หลัก 500 WX เรย์ฟลูออเรสเซนต์เมซา มี 15/50 keV X-ray tube วิเคราะห์เชิงปริมาณของซิลิกาที่เนื้อหางานไม่เตรียมอุดมศึกษาเช่นการสอบเทียบโดยใช้ตัวอย่างมาตรฐานและลงทะเบียนล่วงหน้าของสเปกตรัมมาตรฐานได้ดำเนินการ รหัสขั้นตอนการกระจายผง X-ray (XRD) ของซิลิกาที่สกัดถูกกำหนด โดยการกระจายแสงแป้งเอ็กซเรย์ฟิลลิปส์ PW 1830/40 ถูกใช้เพื่อกำหนดตัวอย่าง ใช้ Cu-Kα1 รังสีกับλ = 1.5406 Å ตึงเครื่องกำเนิดไฟฟ้า 40 kV, mV กำเนิดปัจจุบัน 30 2θ 5-70° ช่วง และอัตรา 0.01 องศา/นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ซิลิกาลักษณะเฉพาะ X-ray fluorescence สเปก (XRF) การวิเคราะห์ทางเคมีที่ถูกกำหนดโดยใช้ X-ray fluorescence (XRF Horiba, MESA 500 WX-ray fluorescence spectrometry กับเคฟ 15/50 หลอด X-ray. การวิเคราะห์หาปริมาณซิลิกาเนื้อหาที่ไม่มีการเตรียมความพร้อม การทำงานเช่นการสอบเทียบมาตรฐานโดยใช้ตัวอย่างและลงทะเบียนล่วงหน้าของคลื่นความถี่มาตรฐานที่ได้ดำเนินการ. X-ray ผงเลนส์ (XRD) บัตรประจำตัวเฟสของซิลิกาที่สกัดได้รับการพิจารณาโดย X-ray ผงเลนส์ฟิลลิป PW 1830-1840 ถูกใช้ในการตรวจสอบ ตัวอย่างการใช้รังสี Cu-Kα1กับλ = 1.5406 A, เครื่องกำเนิดไฟฟ้า 40 กิโลโวลต์ความตึงเครียด, เครื่องกำเนิดไฟฟ้าปัจจุบัน 30 mV อยู่ในช่วง 5-70 °2θและในอัตรา 0.01 ° / นาที