Instruments usedX-ray powder diffra

Instruments used
X-ray powder diffraction is done using Philips PW 1050/70 with
Cu Ka radiation with a Ni filter. Scanning electron micrographs are
taken on JEOL (JSM-840A) scanning electron microscopy. Transmission
Electron Microscopy (TEM) analysis was performed on a
Hitachi H-8100 (accelerating voltage up to 200 kV, LaB6 filament)
equipped with EDS (Kevex Sigma TMQuasar, USA). The FTIR spectroscopic
studies have been carried out on a Perkin Elmer spectrometer
(Spectrum 1000) with KBr pellets. The excitation and
emission spectra are measured at room temperature on a SHIMADZU
make Spectrofluorophotometer RF-5301 PC equipped with a
xenon discharge lamp as an excitation source. The optical absorption
spectra of the samples are carried out using ELICO SL 159 UV–
Vis spectrophotometer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เครื่องมือที่ใช้การเลี้ยวเบนผงเอกซเรย์เสร็จใช้ฟิลิปส์ PW 1050/70 ด้วยรังสี Cu Ka กับตัว Ni มีอิเล็กตรอน micrographs แกนทำกับ microscopy อิเล็กตรอนสแกน JEOL (JSM-840A) ส่งวิเคราะห์ Microscopy อิเล็กตรอน (ยการ) ทำตามแบบฮิตาชิ H-8100 (เร่งแรงดันถึง 200 kV ใย LaB6)พร้อมกับ EDS (Kevex ซิก TMQuasar สหรัฐอเมริกา) FTIR ด้านศึกษามีการดำเนินการกับเอลเมอเพอร์สเปกโตรมิเตอร์(สเปกตรัม 1000) กับ KBr ขี้ การในการกระตุ้น และแรมสเป็คตรามลพิษจะวัดที่อุณหภูมิห้องใน SHIMADZUทำให้ PC RF-5301 Spectrofluorophotometer พร้อมโคมไฟจำหน่ายซีนอนเป็นในการกระตุ้น ดูดซับแสงแรมสเป็คตราของตัวอย่างจะถูกนำออกใช้ ELICO SL 159 UV –เครื่องทดสอบกรดด่าง Vis

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เครื่องมือที่ใช้
การเลี้ยวเบนผง X-ray จะกระทำโดยใช้ฟิลิปส์ PW 1050-1070 ด้วย
รังสี Cu กากับตัวกรอง Ni กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนจะ
ดำเนินการใน JEOL (JSM-840A) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน การส่งผ่าน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) การวิเคราะห์ได้รับการดำเนินการเกี่ยวกับ
Hitachi H-8100 (เร่งแรงดันไฟฟ้าได้ถึง 200 กิโลโวลต์, ใย LAB6)
พร้อมกับ EDS (Kevex Sigma TMQuasar สหรัฐอเมริกา) สเปกโทรสโก FTIR
การศึกษาได้รับการดำเนินการในสเปกโตรมิเตอร์ Perkin Elmer
(Spectrum 1000) ด้วยเม็ด KBr และกระตุ้น
การปล่อยสเปกตรัมที่วัดที่อุณหภูมิห้องใน SHIMADZU
ทำให้ Spectrofluorophotometer RF-5301 เครื่องคอมพิวเตอร์พร้อมกับ
ปล่อยโคมไฟซีนอนเป็นแหล่งกระตุ้น การดูดซึมแสง
สเปกตรัมของกลุ่มตัวอย่างที่มีการดำเนินการโดยใช้ Elico SL 159 UV-
Vis Spectrophotometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่องมือที่ใช้รังสีเอกซ์การเลี้ยวเบน
ผงใช้ Philips PW 1050 / 70 กับ
Cu การังสีด้วยชั้นกรอง การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบเป็น
ถ่ายในจอล ( jsm-840a ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์
( TEM ) การวิเคราะห์บน
Hitachi h-8100 ( เร่งแรงดันถึง 200 กิโล lab6 เส้นใย )
พร้อมกับ EDS ( kevex Sigma tmquasar , USA )( สเปก
การศึกษาได้ดำเนินการในเพอร์กินเอลเมอร์สเปก
( ( 1000 ) กับ KBR เม็ด ไทเทเนียมการปล่อยสเปกตรัม
จะวัดที่อุณหภูมิห้องบน Shimadzu
ให้ spectrofluorophotometer rf-5301 PC พร้อมกับ
ซีนอนจำหน่ายโคมไฟเป็น 01 การดูดกลืนแสงอินฟราเรดสเปกตรัมของ
ตัวอย่าง โดยใช้ elico SL 159 –
ยูวีปริมาณวัสดุ