Samples were analyzed at the World

Samples were analyzed at the World Agroforestry Centre's Spectral
Diagnostics Laboratory in Nairobi, Kenya using TXRF and X-ray diffraction
spectroscopy (XRD) spectral methods on all samples collected.
Soil samples were first air-dried and passed through a 2-mm sieve before
sub sampling to 10 g using coning and quartering technique to ensure
homogeneity of the sample. The 10 g subsamples were oven-dried
at 40 °C and then 5 g were ground to a fine powder (b200 μm) using a
Retsch RM 200 mill (Retsch, Düsseldorf, Germany). Approximately 3 g
of each soil samplewas then further ground to b50 μmusing aMcCrone
micronising mill (McCrone, Westmont, U.S.A.). The TXRF methodology
was used to analyze total elemental concentrations in each soil sample
using a S2 PICOFOX™ TXRF spectrometer (Bruker AXS Microanalysis
GmbH, Germany). Based on a recently developed and tested method
(Towett et al., 2013), 50 mg of the finely ground (20–50 μm) sample
was mixed with 2.5 ml of Triton X100 (Fischer Scientific, UK) solution
(0.1 vol.%) to form a soil suspension and spiked with 40 μl of
1000 mg l−1 Selenium(Fluka Analytical, Germany) as the internal standard.
The suspension was placed into an ultrasonic water bath at room
temperature and sonicated in a continuous mode for 15 min, and then
mixed well using a digital shaker. 10 μl of the turbid soil solution was
immediately dispensed on to a clean siliconized quartz glass sample carrier
and dried for 10–15min at 52 °C on a hot plate (Staurt®SD300) in a
clean laminar flow hood. Samples were analyzed in triplicate with data
acquisition time of 1000 s per sample. The evaluation of spectra and element
quantification were performed using the software program
SPECTRA 6.3 (Bruker AXS GmbH, Germany). Mineral profiling was
done using XRD spectroscopy where finely ground (b50 μm) samples
were loaded into steel sample holders and analyzed using a Bruker D2
Phaser XRD spectrometer instrument that was equipped with a
LYNXEYE compound silicon strip, 1-dimensional detector with Theta/
Theta geometry. The instrument was integrated with the DIFFRACplus
TOPAS graphics based, non-linear least squares profile analysis program.
Identification of X-ray minerals was achieved by comparing the
X-ray diffraction pattern (diffractrogram) obtained from an unknown
samplewith an internationally recognized database (powder diffraction
file, PDF) containing reference patterns with more than 70,000 phases. done using a full pattern fitting method (Rietveld method e.g., using
TOPAS program).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีวิเคราะห์ตัวอย่างที่สเปกตรัมของศูนย์ Agroforestry โลกห้องปฏิบัติการวินิจฉัยในไนโรบี เคนยาโดยใช้ TXRF และการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์วิธีสเปกตรัมก (XRD) ในตัวอย่างทั้งหมดที่รวบรวมตัวอย่างดินก่อน air-dried และผ่านตะแกรง 2 มม.ก่อนสุ่มตัวอย่างย่อยไป 10 กรัม ใช้ coning quartering เทคนิคให้homogeneity ของตัวอย่าง Subsamples 10 กรัมมีเตาอบแห้งที่ 40 ° C และ 5 g ถูกล่างละออง (b200 μm) ใช้เป็นโรงงาน Retsch RM 200 (Retsch ดึสเซลดอร์ฟ เยอรมนี) ประมาณ 3 gของแต่ละดิน samplewas แล้วพื้นดินเพิ่มเติม b50 μmusing aMcCronemicronising มิลล์ (McCrone สหรัฐอเมริกา Westmont) วิธี TXRFใช้ในการวิเคราะห์ความเข้มข้นธาตุทั้งหมดในตัวอย่างดินแต่ละใช้สเปกโตรมิเตอร์ TXRF ™ S2 PICOFOX (Bruker AXS MicroanalysisGmbH เยอรมนี) ตามวิธีการทดสอบ และพัฒนาล่าสุด(Towett et al., 2013), 50 มิลลิกรัมของประณีตดินตัวอย่าง (20-50 μm)ถูกผสมกับ 2.5 ml ของไตรตั้น X 100 (ตื่นวิทยาศาสตร์ UK)(vol.% 0.1) เพื่อระงับดิน และ spiked กับ μl 40 ของ1000 มิลลิกรัมเกลือ l−1 (Fluka วิเคราะห์ เยอรมนี) เป็นมาตรฐานภายในการระงับถูกวางลงในอ่างน้ำ ultrasonic ที่ห้องอุณหภูมิ และ sonicated ในโหมดต่อเนื่องสำหรับ 15 นาที และผสมดีใช้เชคเกอร์ดิจิตอล Μl 10 ดิน turbid โซลูชันได้คำทันทีไปยังผู้ขนส่งอย่างแก้วควอตซ์ siliconized สะอาดand dried for 10–15min at 52 °C on a hot plate (Staurt®SD300) in aclean laminar flow hood. Samples were analyzed in triplicate with dataacquisition time of 1000 s per sample. The evaluation of spectra and elementquantification were performed using the software programSPECTRA 6.3 (Bruker AXS GmbH, Germany). Mineral profiling wasdone using XRD spectroscopy where finely ground (b50 μm) sampleswere loaded into steel sample holders and analyzed using a Bruker D2Phaser XRD spectrometer instrument that was equipped with aLYNXEYE compound silicon strip, 1-dimensional detector with Theta/Theta geometry. The instrument was integrated with the DIFFRACplusTOPAS graphics based, non-linear least squares profile analysis program.Identification of X-ray minerals was achieved by comparing theX-ray diffraction pattern (diffractrogram) obtained from an unknownsamplewith an internationally recognized database (powder diffractionfile, PDF) containing reference patterns with more than 70,000 phases. done using a full pattern fitting method (Rietveld method e.g., usingTOPAS program).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างที่ได้มาวิเคราะห์ในงาน World วนเกษตรของศูนย์สเปกตรัม
การวินิจฉัยทางห้องปฏิบัติการในไนโรบีเคนยาใช้ TXRF และเอ็กซ์เรย์เลนส์
สเปกโทรสโก (XRD) วิธีสเปกตรัมตัวอย่างที่เก็บรวบรวมทั้งหมด.
ตัวอย่างดินเป็นครั้งแรกที่อากาศแห้งและผ่านตะแกรง 2 มมก่อนที่จะ
ย่อย การสุ่มตัวอย่าง 10 กรัมโดยใช้ coning และเทคนิคการพักแรมเพื่อให้แน่ใจว่า
เป็นเนื้อเดียวกันของกลุ่มตัวอย่าง 10 กรัม subsamples ถูกเตาอบแห้ง
ที่อุณหภูมิ 40 องศาเซลเซียสและจากนั้น 5 กรัมมาบดให้เป็นผงละเอียด (b200 ไมครอน) โดยใช้
Retsch RM 200 โรงงาน (Retsch, Düsseldorf, เยอรมนี) ประมาณ 3 กรัม
ของแต่ละพื้นดิน samplewas ต่อไปแล้ว B50 μmusing aMcCrone
โรงงาน micronising (McCrone, เวสต์สหรัฐอเมริกา) วิธีการ TXRF
ถูกใช้ในการวิเคราะห์ความเข้มข้นของธาตุรวมในแต่ละตัวอย่างดิน
โดยใช้ S2 PICOFOX ™ TXRF สเปกโตรมิเตอร์ (Bruker AXS microanalysis
GmbH ประเทศเยอรมนี) ขึ้นอยู่กับวิธีการพัฒนาและผ่านการทดสอบเมื่อเร็ว ๆ นี้
(Towett et al., 2013) 50 mg ของพื้นดินอย่างประณีต (20-50 ไมครอน) ตัวอย่าง
ผสมกับ 2.5 มิลลิลิตรไทรทัน X100 (ฟิชเชอร์ทางวิทยาศาสตร์สหราชอาณาจักร) วิธีการแก้ปัญหา
(ฉบับ 0.1.% ) ในรูปแบบการระงับดินและถูกแทง 40 ไมโครลิตรของ
1000 mg l-1 ซีลีเนียม (Fluka วิเคราะห์เยอรมนี) เป็นมาตรฐานภายใน.
ระงับถูกวางลงในอ่างน้ำล้ำ ณ ห้อง
อุณหภูมิและ sonicated ในโหมดอย่างต่อเนื่องเป็นเวลา 15 นาที แล้ว
นำมาผสมกันโดยใช้เครื่องปั่นดิจิตอล 10 ไมโครลิตรของการแก้ปัญหาดินขุ่นถูก
จ่ายทันทีในการควอทซ์ siliconized สะอาดกระจกตัวอย่างผู้ให้บริการ
และแห้งสำหรับ 10-15min ที่ 52 องศาเซลเซียสบนจานร้อน (Staurt®SD300) ใน
เครื่องดูดควันไหลที่สะอาด ตัวอย่างการวิเคราะห์ในเพิ่มขึ้นสามเท่าที่มีข้อมูล
เวลาเข้าซื้อกิจการของ s 1000 ต่อตัวอย่าง การประเมินผลของสเปกตรัมและองค์ประกอบ
ปริมาณถูกดำเนินการโดยใช้โปรแกรมซอฟต์แวร์
SPECTRA 6.3 (Bruker AXS GmbH ประเทศเยอรมนี) โปรไฟล์แร่ถูก
ทำโดยการใช้สเปคโทร XRD ที่บดละเอียด (B50 ไมครอน) ตัวอย่าง
ถูกโหลดลงในผู้ถือตัวอย่างเหล็กและวิเคราะห์โดยใช้ Bruker D2
Phaser ตราสารสเปกโตรมิเตอร์ XRD ที่มาพร้อมกับ
สาร LYNXEYE แถบซิลิคอนตรวจจับ 1 มิติที่มีที /
เรขาคณิตที . เครื่องมือที่ถูกบูรณาการกับ DIFFRACplus
กราฟิก TOPAS ตามสี่เหลี่ยมน้อยที่ไม่ใช่เชิงเส้นโปรแกรมการวิเคราะห์รายละเอียด.
บัตรประจำตัวของแร่ธาตุเอ็กซ์เรย์ก็ประสบความสำเร็จโดยการเปรียบเทียบ
รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (diffractrogram) ที่ได้จากการที่ไม่รู้จัก
samplewith ฐานข้อมูลยอมรับในระดับสากล (ผง เลนส์
ไฟล์ PDF) ที่มีรูปแบบการอ้างอิงที่มีมากกว่า 70,000 ขั้นตอน ทำได้โดยใช้รูปแบบเต็มรูปแบบวิธีการที่เหมาะสม (เช่นวิธี Rietveld ใช้
โปรแกรม TOPAS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วิเคราะห์สเปกตรัมของโลกที่ศูนย์การวินิจฉัยทางห้องปฏิบัติการ
วนเกษตรในไนโรบี , เคนยา txrf การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ใช้และสเปกโทรสโกปี
( XRD ) วิธีการในการเก็บตัวอย่างดินก่อน .
ตัวอย่างอากาศแห้งและผ่านตะแกรงก่อน
2-mm ย่อยแบ่ง 10 กรัมและเทคนิคเพื่อให้แน่ใจว่าปริมาณการใช้กรวย
ค่าตัวอย่าง10 กรัม subsamples เป็นเตาอบแห้งที่อุณหภูมิ 40 องศา C แล้ว
5 g ) พื้นเพื่อผงละเอียด ( b200 μ M ) ใช้
retsch RM 200 มิล ( retsch ดึสเซลดอร์ฟ ประเทศเยอรมนี , ) ประมาณ 3 g
ของดินแต่ละ samplewas บดต่อไป b50 μตรึกตรอง amccrone
micronising โรงสี ( เมิ่กโรน Westmont อเมริกา , ) วิธีการที่ txrf
วิเคราะห์ความเข้มข้นรวมธาตุในดินแต่ละตัวอย่าง
ใช้ S2 picofox ™ txrf Spectrometer ( BRUKER ขวานจัดเรียงกันอยู่
GmbH , Germany ) บนพื้นฐานของการพัฒนาเมื่อเร็ว ๆ นี้ และทดสอบวิธีการ
( towett et al . , 2013 ) 50 mg ของ บดละเอียด ( 20 – 50 μ M ) ตัวอย่าง
ผสมกับ 2.5 ml ของ Triton าย ( ฟิชเชอร์ทางวิทยาศาสตร์ , UK ) โซลูชั่น ( 0.1 %
. ) รูปแบบดินสะเทือนและถูกแทงด้วยμ 40 l
1000 mg L − 1 ซีลีเนียม ( fluka วิเคราะห์เยอรมนี ) เป็นมาตรฐานภายใน
ระงับได้ใส่ในน้ำอาบด้วยอุณหภูมิห้อง
sonicated และในโหมดต่อเนื่องเป็นเวลา 15 นาที แล้วใช้เครื่องปั่น
ผสมดิจิตอล 10 μ L ของสารละลายดินขุ่นคือ
ทันทีจ่ายเพื่อ siliconized สะอาดแก้วควอทซ์ตัวอย่างผู้ให้บริการ
และแห้ง 10 – 15 นาทีที่ 52 ° C บนจานร้อน ( staurt ®
sd300 ) ในทำความสะอาดเครื่องดูดควันไหลแบบราบเรียบ . วิเคราะห์ทั้งสามใบ กับ เวลา ข้อมูล
1 s / ตัวอย่าง การประเมินผลของแสงและองค์ประกอบ
ปริมาณการใช้โปรแกรมซอฟต์แวร์สเปกตรัม
6.3 ( BRUKER ขวาน GmbH , Germany ) การใช้รังสีเอ็กซ์แร่คือ
สเปกโทรสโกปีที่บดละเอียด ( b50 μ
m ) ตัวอย่างมีโหลดในผู้ถือเหล็กตัวอย่างและวิเคราะห์โดยใช้ BRUKER D2
Phaser XRD สเปกอุปกรณ์ที่ติดตั้งด้วย
lynxeye สารประกอบซิลิคอนแถบ 1-dimensional ตรวจจับกับ Theta /
Theta เรขาคณิต เครื่องมือที่ใช้ในการวิจัยเป็นแบบบูรณาการกับ diffracplus
โทปาซกราฟิกใช้โปรแกรมการวิเคราะห์ข้อมูลเชิงเส้นกำลังสองน้อยที่สุด .
การจำแนกแร่รังสีเอ็กซ์ถูกบรรลุโดยการเปรียบเทียบ
รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( diffractrogram ) ที่ได้จากการไม่รู้จัก
samplewith ระดับนานาชาติในฐานข้อมูล ( PDF เลนส์แป้ง
ไฟล์ที่มีรูปแบบการอ้างอิงที่มีมากกว่า 70 , 000 ส่วน ทำโดยใช้วิธีที่เหมาะสมแบบเต็ม ( ไรเ เวลวิธีเช่นใช้โปรแกรม
โทปาส )