Fig. 8. Angular resolved scattering

Fig. 8. Angular resolved scattering measured at 500 nm for a series of layer with increasing NC-ZnO filling layer thickness on a 1.8 mm thick base layer (B2H6/DEZ ¼4.2 Á 10 À 4). Thick solid line: base layer. Dashed line with no marking:sputtered ZnO:Al textured by HCl wet chemical etching.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 8 แองกูลาร์ scattering แก้ไขวัด 500 nm ของชั้นกับเพิ่มความหนาชั้นเติม NC ZnO ใน 1.8 มม.หนาฐานชั้น (B2H6/DEZ ¼4.2 Á 10 À 4) เส้นทึบหนา: ชั้นพื้นฐาน เส้นประไม่ทำเครื่องหมายบรรทัด: sputtered ZnO:Al พื้นผิว ด้วย HCl กัดเคมีเปียก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 8. การแก้ไขกระเจิงวัดเชิงมุมที่ 500 นาโนเมตรสำหรับชุดของชั้นที่มีการเพิ่มความหนาของชั้นบรรจุ NC-ZnO บนฐานชั้นหนา 1.8 มิลลิเมตร (B2H6 / DEZ ¼4.2 10 A 4) เส้นทึบหนา: ฐานชั้น เส้นประที่ไม่มีเครื่องหมาย: sputtered ZnO: อัลพื้นผิวโดยการแกะสลัก HCl เคมีเปียก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 8 การกระจายเชิงมุมที่วัด 500 nm สำหรับชุดของชั้นด้วยการเพิ่ม NC ไส้หนาชั้นบนหนา 1.8 มม. ชั้นฐานซิงค์ออกไซด์ ( b2h6 / เดซ¼ 4.2 Á 10 À 4 ) เส้นทึบหนา : ชั้นฐาน เส้นประด้วยไม่มีเครื่องหมาย : sputtered ZnO : อัล HCl เปียกเคมีแกะสลักพื้นผิว โดย .