Electron probe microanalysis(EPMA)

Electron probe microanalysis
(EPMA) was performed on JEOL JXA-8100 at an accelerating
voltage of 20 kV, with a 2  10
8 A beam current. Grain
boundary precipitates was characterized using a Tecnai G2 F30STWIN
transmission electron microscopy (TEM) operating at
300 kV. Electron transparent specimen was generated by twin-jet
electropolishing in a solution of 80 vol.% methanol þ20 vol.% nitric
acid.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Microanalysis รบอิเล็กตรอนทำใน JEOL JXA-8100 (EPMA) ในการเร่งแรงดัน 20 kV, 8 A 10 เครื่อง 2 ลำปัจจุบัน เมล็ดข้าวขอบตกตะกอนมีลักษณะพิเศษโดยใช้การ Tecnai G2 F30STWINส่งอิเล็กตรอน (TEM) ที่ทำงาน300 kV สร้าง โดยเจ็ตคู่อิเล็กตรอนอย่างโปร่งใสelectropolishing ในโซลูชันของ 80 vol.% เมทานอ þ20 vol.% ไนตริกออกไซด์กรด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อิเลคตรอนสอบสวน microanalysis
(EPMA) กำลังดำเนินการ JEOL JXA-8100 ที่เร่ง
แรงดันไฟฟ้า 20 กิโลโวลต์ด้วย 2 หรือไม่? 10 8 ลำแสงปัจจุบัน ข้าว
ตกตะกอนเขตแดนก็มีลักษณะการใช้ Tecnai G2 F30STWIN
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ปฏิบัติการที่
300 กิโลโวลต์ อิเลคตรอนตัวอย่างโปร่งใสถูกสร้างขึ้นโดยคู่เจ็ท
แบบไม่มีไฟฟ้าในการแก้ปัญหา 80 ฉบับได้.% เมทานอลþ20 Vol. ไนตริก%
กรด