2.2. CharacterizationMorphological

2.2. Characterization
Morphological analysis was carried out by SEM using a ZEISS 1540XB FE SEM instruments (Zeiss, Germany) equipped with an EDX detector.
X-ray diffraction analysis was used to investigate the microstructure of the sensing layer (Bruker AXS D8 Advance).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.2. สมบัติวิเคราะห์สัณฐานได้ดำเนินการ โดยใช้แบบ ZEISS 1540XB FE SEM เครื่อง (Zeiss เยอรมัน) พร้อมกับการตรวจจับเห็น EDX SEMวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของชั้นของการตรวจวัด (AXS Bruker D8 ล่วงหน้า)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2 การศึกษาลักษณะ
การวิเคราะห์ทางสัณฐานวิทยาได้ดำเนินการโดย SEM ใช้เครื่องมือ ZEISS 1540XB FE SEM (Zeiss, เยอรมนี) พร้อมกับเครื่องตรวจจับ EDX.
วิเคราะห์ X-ray เลนส์ถูกใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของชั้นเซนเซอร์ได้ (Bruker AXS D8 ล่วงหน้า)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2 . คุณลักษณะการวิเคราะห์ลักษณะทางสัณฐานวิทยาพบว่า SEM SEM ใช้ Zeiss 1540xb เหล็กเครื่องมือ ( Zeiss เยอรมนี ) พร้อมกับการวัดรังสีการวิเคราะห์โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ใช้ศึกษาโครงสร้างจุลภาคของชั้นข้อมูล ( BRUKER ขวาน d8 ล่วงหน้า )