Samples were prepared for HIM and S

Samples were prepared for HIM and SEM analysis, by drop-casting
30 μl of each suspension onto a clean SiO2
substrate.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีเตรียมตัวอย่างสำหรับวิเคราะห์เขาและ SEM โดยหล่นหล่อΜl 30 ของแต่ละช่วงล่างบน SiO2 สะอาดพื้นผิว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างที่ถูกเตรียมไว้สำหรับเขาและวิเคราะห์ SEM โดยหล่นหล่อ
30 ไมโครลิตรของแต่ละระงับลงบน SiO2 ทำความสะอาด
พื้นผิว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่างที่เตรียมไว้สำหรับเขา และการวิเคราะห์ SEM หยดหล่อ30 μ L แต่ละระงับไปยังสะอาดแร่ซิลิคอนไดออกไซด์พื้นผิว