In particular, roughness is partial

In particular, roughness is partially responsible for the different optical properties. The RMS (roughness measurement system) surface roughness of the different substrates has been measured using a Tencor 40T profilometer. The values are derived from the mean roughness measured on five different samples. The results of these measurements, with the relative error, are reported in Table 1. It is evident that there is a good reproducibility on the measured roughness. The values are compared with the RMS roughness obtained on a silicone mould of in vivo skin.
2.2. Spectro-photometric measurements
All substrates have been characterized by transmittance and reflectance measurements (total and diffuse). Measurements have been performed with a Varian Cary 5000 UV/VIS/NIR (ultraviolet– visible–near infrared) spectrophotometer using a UV/VIS/NIR integrating sphere. The instrument spans a spectral wavelength range from 175 up to 3300 nm. Its optical system ensures a maximum level of light throughput that produces accurate

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โดยเฉพาะอย่างยิ่ง ความหยาบเป็นบางส่วนชอบคุณสมบัติแสงแตกต่างกัน ความหยาบผิวของ RMS (ระบบการวัดความหยาบ) ของพื้นผิวแตกต่างกันมีการวัดโดยใช้ profilometer Tencor 40T ค่าที่มาจากความหยาบช้าที่วัดในตัวอย่างต่าง ๆ five ผลของการวัดเหล่านี้ ข้อผิดพลาดที่สัมพันธ์กัน มีรายงานในตารางที่ 1 เห็นได้ชัดว่า มี reproducibility ความดีบนความหยาบที่วัดได้ มีการเปรียบเทียบค่ากับความหยาบของ RMS ที่รับบนแม่พิมพ์ซิลิโคนของผิวหนังในสัตว์ทดลอง
2.2 วัด Spectro photometric
มีลักษณะพื้นผิวทั้งหมดแล้วประเมิน transmittance และ reflectance (รวม และกระจาย) การวัด ด้วยเครื่องทดสอบกรดด่างแล้วแต่กำหนดแครีแกรนต์ 5000 UV/VIS/NIR (รังสีอัลตราไวโอเลตเห็น – ใกล้อินฟราเรด) ใช้แบบ UV/VIS/NIR รวมทรงกลม เครื่องมือครอบคลุมช่วงความยาวคลื่นสเปกตรัมตั้งแต่ 175 ถึง 3300 nm ระบบของแสงระดับสูงสุดของอัตราความเร็วแสงที่ก่อให้เกิดความถูกต้องเพื่อให้แน่ใจ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โดยเฉพาะอย่างยิ่งความหยาบส่วนหนึ่งเป็นผู้รับผิดชอบสำหรับคุณสมบัติทางแสงที่แตกต่างกัน RMS (ระบบการวัดความหยาบ) พื้นผิวที่ขรุขระของพื้นผิวที่แตกต่างกันได้รับการวัดโดยใช้ profilometer Tencor 40T ค่าจะได้มาจากความหยาบเฉลี่ยที่วัดได้ในห้าตัวอย่างที่แตกต่างกัน ผลที่ได้จากการวัดเหล่านี้มีข้อผิดพลาดที่ญาติจะมีการรายงานในตารางที่ 1. เห็นได้ชัดว่ามีการทำซ้ำที่ดีในการวัดความหยาบ ค่าที่ถูกเมื่อเทียบกับความหยาบ RMS ที่ได้รับในแม่พิมพ์ซิลิโคนของในร่างกายผิว
2.2 วัด Spectro-แสง
พื้นผิวทั้งหมดได้รับการที่โดดเด่นด้วยการส่งผ่านและสะท้อนการวัด (รวมและกระจาย) วัดที่ได้รับการดำเนินการกับ Varian นิวเคลียส 5000 UV / VIS / NIR (อัลตราไวโอเลตมองเห็นใกล้อินฟราเรด) spectrophotometer ที่ใช้ทรงกลม UV / VIS / NIR บูรณาการ เครื่องมือที่ครอบคลุมช่วงความยาวคลื่นสเปกตรัมจาก 175 ถึง 3300 นาโนเมตร ระบบแสงที่ช่วยให้มั่นใจได้ในระดับสูงสุดของการส่งผ่านแสงที่ผลิตที่ถูกต้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยเฉพาะความขรุขระเป็นบางส่วนรับผิดชอบที่แตกต่างกันแสงสมบัติ RMS ( ระบบการวัดความหยาบของพื้นผิวขรุขระของพื้นผิวต่าง ๆ ) ได้ถูกวัดโดยใช้ tencor 40T Pro จึง lometer . ค่าจะได้มาจากค่าเฉลี่ยความหยาบ วัดจึงได้แตกต่างกัน ตัวอย่าง ผลของการวัดเหล่านี้มีข้อผิดพลาดญาติจะมีการรายงานในตารางที่ 1จะเห็นว่ามีการตรวจสอบที่ดีในการวัดความหยาบกร้าน ค่าเปรียบเทียบกับค่าความขรุขระที่ได้รับบนแม่พิมพ์ซิลิโคนของฤทธิ์ในผิวหนัง .
2.2 . Spectro แสงการวัด
พื้นผิวทั้งหมดมีลักษณะการส่งผ่านและfl ectance การวัด ( รวมและกระจาย )ได้ทำการวัดด้วยเครื่อง UV / VIS / NIR แครี่ 5000 ( –มองเห็นรังสีอัลตราไวโอเลตและอินฟราเรดใกล้วัสดุที่ใช้ UV / VIS / NIR รวมวง เครื่องมือที่ครอบคลุมเป็นสเปกตรัมความยาวคลื่นช่วงจาก 175 ถึง 3 , 300 นาโนเมตร ระบบแสงของมันช่วยให้ระดับสูงสุดของระบบแสงที่ผลิตถูกต้อง