A scanning electron microscope (Mod

A scanning electron microscope (Model JSM-5310LV; JEOL Ltd., Tokyo, Japan) was used to examine the dried shiitake mushrooms’ microstructure

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (รุ่น JSM-5310LV จำกัด โตเกียว ญี่ปุ่น JEOL) ใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของเห็ดตากแห้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (รุ่น JSM-5310LV; JEOL จำกัด กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น) ถูกนำมาใช้ในการตรวจสอบจุลภาคเห็ดหอมเห็ดแห้ง '