The morphology of Pt/WO3photocataly

The morphology of Pt/WO3photocatalyst wasobserved by Philips FEI Tecnai F20 G2high-resolution transmis-sion electron microscope (HR-TEM) at an acceleration voltage of200 kV. The specimen was prepared by ultrasonically dispersing thesample into ethanol, depositing droplets of the suspensions onto acopper mesh (200 meshes), and keeping 24 h in a vacuum dry oven(DOV30). For surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) was conducted to identify the composition and chemical sta-tus of photocatalysts by the Theta Probe XPS (Thermo Scientific)with Mg target as the X-ray source of 1253.6 eV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาของ Pt/WO3photocatalyst wasobserved โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน transmis-sion Tecnai F20 เฟย Philips G2high-ความละเอียด (HR-TEM) ที่แรงดันการเร่ง of200 kV ชิ้นงานถูกเตรียม ultrasonically สลาย thesample ลงในเอทานอล ฝากหยดของสารแขวนลอยลงบนตาข่าย acopper (ตาข่าย 200), และการรักษา 24 ชั่วโมงในสุญญากาศแห้ง oven(DOV30) สำหรับวิเคราะห์พื้นผิว X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) ดำเนินการเพื่อระบุองค์ประกอบและ sta tus เคมีของ photocatalysts โดยทีโพรบ XPS (เทอร์โมวิทยาศาสตร์) กับเป้าหมายมก.เป็นแหล่ง X-ray ของ 1253.6 eV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของ Pt / WO3photocatalyst wasobserved โดยฟิลิปส์เฟ Tecnai F20 G2high ละเอียด transmis-Sion กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HR-TEM) ที่แรงดันไฟฟ้าอัตราเร่ง of200 กิโลโวลต์ ตัวอย่างที่ได้รับการจัดทำขึ้นโดย ultrasonically กระจาย thesample เข้าเอทานอลฝากละอองแขวนลอยลงบนตาข่าย acopper (200 ตาข่าย) และการรักษา 24 ชั่วโมงในเตาอบแห้งสูญญากาศ (DOV30) สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว, X-ray โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (XPS) ได้ดำเนินการในการระบุองค์ประกอบทางเคมีและ STA-TUS ของโฟโตคะโดยที Probe XPS (Thermo Scientific) โดยมีเป้าหมาย Mg เป็นแหล่ง X-ray ของ 1,253.6 eV