Design for Test (aka "Design for Te

Design for Test (aka "Design for Testability" or "DFT") is a name for design techniques that add certain testability features to a microelectronic hardware product design. The premise of the added features is that they make it easier to develop and apply manufacturing tests for the designed hardware. The purpose of manufacturing tests is to validate that the product hardware contains no defects that could, otherwise, adversely affect the product’s correct functioning.
Tests are applied at several steps in the hardware manufacturing flow and, for certain products, may also be used for hardware maintenance in the customer’s environment. The tests generally are driven by test programs that execute in Automatic Test Equipment (ATE) or, in the case of system maintenance, inside the assembled system itself. In addition to finding and indicating the presence of defects (i.e., the test fails), tests may be able to log diagnostic information about the nature of the encountered test fails. The diagnostic information can be used to locate the source of the failure.
In other words, the response of vectors(patterns) from a good circuit is compared with the response of vectors(using same patterns) from a DUT(device under test). If the response is the same or matches, the circuit is good. Otherwise, the circuit is faulty.
DFT plays an important role in the development of test programs and as an interface for test application and diagnostics. Automatic test pattern generation, or ATPG, is much easier if appropriate DFT rules and suggestions have been implemented.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การออกแบบสำหรับการทดสอบ (aka "การออกแบบเพื่อการตรวจสอบ" หรือ "ผิวเผิน") เป็นชื่อสำหรับเทคนิคการออกแบบที่เพิ่มคุณสมบัติการตรวจสอบบางอย่างเพื่อการออกแบบผลิตภัณฑ์ฮาร์ดแวร์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ สถานที่ตั้งของคุณสมบัติเพิ่มคือการที่พวกเขาทำให้มันง่ายต่อการพัฒนาและใช้การทดสอบการผลิตฮาร์ดแวร์ที่ออกแบบมาวัตถุประสงค์ของการทดสอบการผลิตคือการตรวจสอบว่าฮาร์ดแวร์ของผลิตภัณฑ์ที่มีข้อบกพร่องที่อาจเป็นอย่างอื่นส่งผลเสียต่อการทำงานที่ถูกต้องของผลิตภัณฑ์ no.
การทดสอบจะใช้เวลาหลายขั้นตอนในการไหลของการผลิตฮาร์ดแวร์และสำหรับสินค้าบางอย่างอาจจะใช้สำหรับการ การบำรุงรักษาฮาร์ดแวร์ในสภาพแวดล้อมของลูกค้าการทดสอบโดยทั่วไปจะขับเคลื่อนด้วยโปรแกรมการทดสอบที่ดำเนินการในอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (กิน) หรือในกรณีของการบำรุงรักษาระบบภายในระบบการประกอบตัวเอง นอกเหนือจากการหาและแสดงให้เห็นการแสดงตนของข้อบกพร่อง (เช่นการทดสอบล้มเหลว) การทดสอบอาจจะสามารถเข้าสู่ระบบข้อมูลการวินิจฉัยเกี่ยวกับธรรมชาติของการทดสอบพบล้มเหลวข้อมูลการวินิจฉัยที่สามารถใช้ในการค้นหาแหล่งที่มาของความล้มเหลว.
ในคำอื่น ๆ ที่ตอบสนองของเวกเตอร์ (รูปแบบ) จากวงจรที่ดีเมื่อเทียบกับการตอบสนองของเวกเตอร์ (โดยใช้รูปแบบเดียวกัน) จาก DUT (อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ) . ถ้าการตอบสนองจะเหมือนกันหรือการจับคู่วงจรเป็นสิ่งที่ดี มิฉะนั้นวงจรเป็นความผิดพลาด.
DFT มีบทบาทสำคัญในการพัฒนาโปรแกรมการทดสอบและเป็นอินเตอร์เฟซสำหรับการประยุกต์ใช้การทดสอบและการวินิจฉัยโรค รุ่นที่รูปแบบการทดสอบอัตโนมัติหรือ atpg เป็นมากขึ้นหากกฎ DFT ที่เหมาะสมและข้อเสนอแนะที่ได้รับการดำเนินการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ออกแบบสำหรับการทดสอบ (aka "ออกแบบสำหรับ Testability" หรือ "DFT") เป็นชื่อสำหรับเทคนิคการออกแบบที่เพิ่มคุณลักษณะบาง testability การออกแบบผลิตภัณฑ์ฮาร์ดแวร์ microelectronic ประทับใจในคุณลักษณะเพิ่มเป็นว่า พวกเขาทำให้การพัฒนา และใช้ทดสอบผลิตฮาร์ดแวร์ออกแบบ วัตถุประสงค์ของการผลิตทดสอบจะตรวจสอบว่า ฮาร์ดแวร์ผลิตภัณฑ์ประกอบด้วยข้อบกพร่องที่อาจ มิฉะนั้น กระทบของผลิตภัณฑ์ถูกต้องทำ
ทดสอบใช้ในขั้นตอนต่าง ๆ ในขั้นตอนการผลิตฮาร์ดแวร์ และ สำหรับผลิตภัณฑ์บางอย่าง อาจใช้สำหรับการบำรุงรักษาฮาร์ดแวร์ในสภาพแวดล้อมของลูกค้า การทดสอบโดยทั่วไปจะควบคุม โดยโปรแกรมทดสอบที่ดำเนินการในอัตโนมัติทดสอบอุปกรณ์ (ATE) หรือ ในกรณี ของการบำรุง รักษาระบบ ภายในระบบจะประกอบตัวเอง ค้นหา และแสดงสถานะของข้อบกพร่อง (เช่น การล้มเหลวทดสอบ), ทดสอบอาจสามารถบันทึกข้อมูลการวินิจฉัยเกี่ยวกับธรรมชาติของเหลวทดสอบพบ สามารถใช้ข้อมูลการวิเคราะห์เพื่อค้นหาแหล่งที่มาของความล้มเหลว
ในคำอื่น ๆ การตอบสนองของ vectors(patterns) จากวงจรดีถูกเปรียบเทียบกับการตอบสนองของเวกเตอร์ (ใช้รูปแบบเดียวกัน) จากบิลพัสดุ์ (อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ) ถ้าคำตอบเหมือนกัน หรือตรงกับ วงจรจะดี มิฉะนั้น วงจรมีความบกพร่อง
DFT มีบทบาทสำคัญในการพัฒนาโปรแกรมทดสอบ และ เป็นอินเทอร์เฟซสำหรับทดสอบแอพลิเคชันและวินิจฉัย สร้างรูปแบบการทดสอบอัตโนมัติ หรือ ATPG ได้ง่ายขึ้นมากถ้าใช้กฎ DFT ที่เหมาะสมและแนะนำงาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การออกแบบสำหรับการทดสอบระบบ(หรือเรียกว่า“การออกแบบสำหรับแก่นแท้"หรือ"อุตสาหกรรมดังกล่าว")เป็นชื่อที่สำหรับเทคนิคการออกแบบที่ช่วยเพิ่มความโดดเด่นด้วยความสามารถบางอย่างการออกแบบ ผลิตภัณฑ์ ฮาร์ดแวร์ที่ microelectronic สถานที่ปฏิบัติงานของเพิ่มความโดดเด่นที่ตามมาก็คือทำให้ได้ง่ายขึ้นในการพัฒนาและใช้การทดสอบการผลิตสำหรับฮาร์ดแวร์ที่ออกแบบมาได้วัตถุประสงค์ของการทดสอบการผลิตคือการตรวจสอบว่า ผลิตภัณฑ์ ฮาร์ดแวร์ที่ไม่มีข้อบกพร่องที่ไม่สามารถจะเป็นปัจจัยที่ส่งผลกระทบต่อการทำงานที่ถูกต้องของ ผลิตภัณฑ์ .
การทดสอบจะถูกนำไปใช้ในหลายขั้นตอนในการผลิตการไหลของฮาร์ดแวร์และสำหรับ ผลิตภัณฑ์ บางอย่างอาจถูกใช้สำหรับการซ่อมบำรุงฮาร์ดแวร์ใน สภาพแวดล้อม ของลูกค้าได้การทดสอบโดยทั่วไปแล้วได้รับการนั่งรถโดยโปรแกรมการทดสอบที่ดำเนินการในการทดสอบระบบอัตโนมัติอุปกรณ์(กิน)หรือในกรณีที่มีการบำรุงรักษาระบบ ภายใน ระบบที่ประกอบเอง ในการค้นหาและแสดงถึงการมีอยู่ของความบกพร่อง(เช่นการทดสอบจะล้มเหลว)การทดสอบอาจจะสามารถล็อกอินเข้าข้อมูลการวิเคราะห์เกี่ยวกับธรรมชาติของการทดสอบพบนั้นไม่ข้อมูลการวินิจฉัยที่สามารถใช้ในการค้นหาแหล่งที่มาของความล้มเหลวที่.
ในคำอื่นๆการตอบสนองขององค์ประกอบ(รูปแบบ)จากวงจรที่ดีคือเมื่อเทียบกับการตอบสนองขององค์ประกอบ(โดยใช้รูปแบบเดียวกันจาก dut (อุปกรณ์ ภายใต้ การทดสอบ) ถ้าการตอบสนองที่เหมือนกันหรือตรงกับวงจรไฟฟ้าที่มีความเหมาะสม หรือมิเช่นนั้นแล้วแผงวงจรที่มีข้อบกพร่อง.
อุตสาหกรรมดังกล่าวมีบทบาทที่สำคัญในการพัฒนาโปรแกรมและทำการทดสอบเป็นอินเตอร์เฟซสำหรับการวินิจฉัยและแอปพลิเคชันการทดสอบ รุ่นใหม่รูปแบบการทดสอบแบบอัตโนมัติหรือ atpg จะได้ง่ายขึ้นหากคำแนะนำและกฎระเบียบอุตสาหกรรมดังกล่าวที่เหมาะสมได้รับการนำมาใช้