1. IntroductionUnderstanding the mo

1. Introduction
Understanding the morphology of polymer blends is
important in order to determine relationships between the
structure and properties of materials. Microscopic methods like
light microscopy (LM), scanning electron microscopy (SEM),
low voltage scanning electron microscopy (LVSEM), transmission
electron microscopy (TEM) or atomic force
microscopy (AFM) can detect details, ranging from the
millimetre to the subnanometer scale, and are therefore popular
tools for visualising blend morphology: Table 1 [1]. In spite of
several spectacular developments in instrumental techniques,
structure determination of polymer blends remains a formidable
challenge. This is, because most electron microscopic
methods are based on observations on thin sections or surfaces
that show a cross-section of the three-dimensional structure or
only some surface topography that can be influenced by the

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

1. บทนำทำความเข้าใจเกี่ยวกับสัณฐานวิทยาของพอลิเมอร์ผสมอยู่ความสำคัญเพื่อกำหนดความสัมพันธ์ระหว่างการโครงสร้างและคุณสมบัติของวัสดุ วิธีด้วยกล้องจุลทรรศน์เช่นแสง microscopy (LM), การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM),แรงดันต่ำที่แกน microscopy อิเล็กตรอน (LVSEM), ส่งแรงอะตอมหรืออิเล็กตรอน microscopy (ยการ)microscopy (AFM) สามารถตรวจสอบรายละเอียด ตั้งแต่การมิลลิเมตรขนาด subnanometer และเป็นที่นิยมดังนั้นสัณฐานวิทยาการผสมผสานเครื่องมือสำหรับ visualising: ตารางที่ 1 [1] นอกเหนือจากพัฒนาต่าง ๆ งดงามในเทคนิคการบรรเลงกำหนดโครงสร้างของพอลิเมอร์ผสมยังคง เป็นอันตรายถึงชีวิตความท้าทาย ทั้งนี้ เนื่องจากส่วนใหญ่ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนวิธียึดในบางส่วนหรือพื้นผิวที่แสดงระหว่างส่วนของโครงสร้างสามมิติ หรือเฉพาะบางพื้นผิวภูมิประเทศที่อาจมีผลมาจากการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

1. บทนำ
ทำความเข้าใจเกี่ยวกับลักษณะทางสัณฐานวิทยาของพอลิเมอผสมผสานเป็น
สิ่งสำคัญในการที่จะกำหนดความสัมพันธ์ระหว่าง
โครงสร้างและคุณสมบัติของวัสดุ วิธีการเช่นกล้องจุลทรรศน์
กล้องจุลทรรศน์แสง (LM), สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
แรงดันไฟฟ้าต่ำกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (LVSEM) ส่ง
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) หรือแรงอะตอม
กล้องจุลทรรศน์ (AFM) สามารถตรวจสอบรายละเอียดตั้งแต่
มิลลิเมตรขนาด subnanometer และจึงเป็นที่นิยม
เครื่องมือสำหรับการแสดงสัณฐานผสมผสาน: ตารางที่ 1 [1] ทั้งๆที่มี
การพัฒนาที่งดงามหลายแห่งในเทคนิคการใช้เครื่องมือ
การกำหนดโครงสร้างของพอลิเมอผสมยังคงเป็นที่น่ากลัว
ท้าทาย นี้เป็นเพราะอิเล็กตรอนมากที่สุดกล้องจุลทรรศน์
วิธีการจะขึ้นอยู่กับข้อสังเกตเกี่ยวกับบางส่วนหรือพื้นผิว
ที่แสดงข้ามส่วนของโครงสร้างสามมิติหรือ
เพียงพื้นผิวภูมิประเทศบางอย่างที่สามารถได้รับอิทธิพลจาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

1 . ความรู้เบื้องต้นเกี่ยวกับสัณฐานวิทยาของพอลิเมอร์ผสม

ที่สำคัญคือ เพื่อศึกษาความสัมพันธ์ระหว่าง
โครงสร้างและคุณสมบัติของวัสดุ วิธีทางกล้องจุลทรรศน์ เช่น
กล้องจุลทรรศน์แสง ( LM ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( แรงดันต่ำ

lvsem ) ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) หรือกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
( AFM ) สามารถตรวจสอบรายละเอียดตั้งแต่
มิลลิเมตรต่อ subnanometer ขนาดและจึงเป็นเครื่องมือที่นิยมสำหรับการแสดงผลของตารางการผสมผสาน :
1 [ 1 ] แม้ว่าการพัฒนาที่งดงามหลายในเทคนิคเครื่องมือ

, การหาโครงสร้างของพอลิเมอร์ผสมยังคงเป็นความท้าทายที่น่ากลัว

นี้เป็นเพราะอิเล็กตรอนมากที่สุดวิธีการจะขึ้นอยู่กับการสังเกตด้วย

ส่วนบางหรือพื้นผิวแสดงภาพตัดขวางของโครงสร้างสามมิติหรือ
เพียงบางพื้นผิวภูมิประเทศที่สามารถมีอิทธิพลโดย